新的失效保護(hù)方法
英飛凌汽車電子生態(tài)圈
解決方案
本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/95416.htm該解決方案是實現(xiàn)一個能夠仿真熔斷器的I2-t特性的智能電路保護(hù)算法。這個概念可轉(zhuǎn)化為“曲線下面積”。在下圖(圖 7)中，曲線下面積(A區(qū))是保護(hù)算法的I2-t界限內(nèi)。B區(qū)所示是在一段時間內(nèi)的恒定超負(fù)載條件，其中，超負(fù)載電流小于智能開關(guān)的限流值。在這個圖中，當(dāng)限流值超過曲線時，智能開關(guān)不會被閉鎖。當(dāng)B區(qū)突破A區(qū)時，器件閉鎖。 這個原則適用于超負(fù)載在開關(guān)激活后存在很長時間的狀況。
圖7：超負(fù)載與功率限制區(qū)比較
評論