新的失效保護方法
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解決方案
本文引用地址：http://www.butianyuan.cn/article/95416.htm該解決方案是實現一個能夠仿真熔斷器的I2-t特性的智能電路保護算法。這個概念可轉化為“曲線下面積”。在下圖(圖 7)中，曲線下面積(A區(qū))是保護算法的I2-t界限內。B區(qū)所示是在一段時間內的恒定超負載條件，其中，超負載電流小于智能開關的限流值。在這個圖中，當限流值超過曲線時，智能開關不會被閉鎖。當B區(qū)突破A區(qū)時，器件閉鎖。 這個原則適用于超負載在開關激活后存在很長時間的狀況。
圖7：超負載與功率限制區(qū)比較
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