科利登設(shè)備用于高速串行總線測(cè)試
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科利登負(fù)責(zé)全球運(yùn)營(yíng)及SPG部(SoC Production Group)高級(jí)副總裁Jean-Luc Pelissier說(shuō):“從產(chǎn)品的特征分析到最終的封裝測(cè)試,千兆級(jí)的信號(hào)完整性需求,低噪聲和皮秒級(jí)的抖動(dòng)控制和高精度測(cè)試都超出了傳統(tǒng)ATE所能達(dá)到的性能范圍。D-3208能幫助客戶應(yīng)對(duì)當(dāng)今抖動(dòng)測(cè)試的挑戰(zhàn)。事實(shí)上,它們已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了比競(jìng)爭(zhēng)機(jī)型更高的測(cè)量精度和性能?!?
D-3208數(shù)字測(cè)試設(shè)備依靠真正的差分通道提高測(cè)試過(guò)程中的信號(hào)完整性。它包含可編程的jitter injection來(lái)測(cè)量抖動(dòng)容限,這是當(dāng)今那些包含了高速串行總線的高性能SoC器件的一個(gè)關(guān)鍵測(cè)試參數(shù)。D-3208能提供嵌入時(shí)鐘和源同步時(shí)鐘兩種測(cè)試方法。它能提供全面的基于協(xié)議的功能測(cè)試來(lái)應(yīng)對(duì)高速串行總線中的固有的非確定性測(cè)試。
D-3208與其它的Sapphire設(shè)備無(wú)縫地整合在一起,能為高速差分器件的測(cè)試通道提供高達(dá)3.2Gbps的測(cè)試解決方案,同時(shí)能使用傳統(tǒng)或者源同步的方式進(jìn)行采樣。這些測(cè)試通道能在測(cè)試程序中進(jìn)行配置,可以定義為16對(duì)1.6Gps的輸入或輸出通道或者2組8對(duì)3.2Gbps的輸入或輸出通道,進(jìn)一步地提高了該設(shè)備的靈活性和性價(jià)比。
為了應(yīng)對(duì)測(cè)試中碰到的一些極具挑戰(zhàn)的問(wèn)題,D-3208還擁有on-the-fly時(shí)序計(jì)算和糾錯(cuò)功能,它能糾正一階(時(shí)鐘偏斜),二階(線性和邊沿類(lèi)型)和三階錯(cuò)誤源(邊沿臨界和數(shù)據(jù)相關(guān))到空前的0.6ps數(shù)字精度。它能提供極大的線性度和+/- 30ps的邊沿放置精度。這一不可匹敵的高性能進(jìn)一步提升了Sapphire系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì),幫助客戶提高特征分析的結(jié)果和生產(chǎn)的良率。
關(guān)于Sapphire
Sapphire是基于NPower?結(jié)構(gòu)和XTOS?軟件的新一代ATE系統(tǒng)。與傳統(tǒng)的大型測(cè)試儀完全不同,Sapphire可提供極大靈活性的配置,并具有從DC到幾GHz的數(shù)字和模擬測(cè)試能力,支持結(jié)構(gòu)測(cè)試和功能測(cè)試,完全封裝的儀器選件可以自由的放置在測(cè)試頭的任何一個(gè)插槽。由于設(shè)計(jì)時(shí)就充分考慮了簡(jiǎn)單性和低成本,Sapphire最終能達(dá)到高集成,小體積和低功耗。它的高帶寬總線可以在各儀器之間進(jìn)行復(fù)雜的通信和精確的同步,進(jìn)而提高各種配置下的性能。Sapphire能夠輕易地滿足一個(gè)大的性能范圍的要求,既可用于高性能器件的特征分析到又可用做低成本的產(chǎn)品測(cè)試,從而滿足IDM,fabless設(shè)計(jì)公司以及測(cè)試服務(wù)承包商等的各種需要。
評(píng)論