Tektronix、Altera和FS2技術合作

Tektronix TLA邏輯分析儀、Altera Quartus II設計軟件5.1和FS2 FPGAView軟件提供完整的調(diào)試包

Tektronix有限公司（NYSE：TEK）、Altera（NASDAQ：ALTR）公司和First Silicon Solutions（FS2）近日發(fā)布了FPGAView?——FS2為Tektronix TLA邏輯分析儀提供的軟件包，可對Altera? FPGA進行實時調(diào)試。采用FPGAView，設計工程師能夠迅速方便的測量其Altera FPGA設計內(nèi)部的信號，不必重新編譯設計便可以選擇探測哪一組內(nèi)部信號。

FS2副總裁兼總經(jīng)理Rick Leatherman說：“我們與Tektronix和Altera合作，幫助用戶在設計Altera FPGA時提高其效能，縮短調(diào)試時間。通過充分利用我們的調(diào)試知識產(chǎn)權、探測技術和PC軟件專門技術來生成FPGAView，我們?yōu)樵O計人員提供的工具幫助他們迅速方便的進行信號測量，而不必重新編譯設計，這實際上節(jié)省了時間和金錢?！?

FPGAView軟件包安裝在Tektronix邏輯分析儀上，由Altera’s Quartus? II設計軟件5.1引入的邏輯分析儀接口功能提供支持。邏輯分析儀接口功能通過用戶配置復用器將大量的內(nèi)部信號映射到少量的輸出引腳上。Tektronix邏輯分析儀由JTAG端口連接至FPGA，F(xiàn)PGAView控制哪些內(nèi)部FPGA信號映射至輸出引腳，進行實時顯示和調(diào)試。與其他調(diào)試方法相比，設計人員將會發(fā)現(xiàn)FPGAView、Altera邏輯分析儀接口功能和Tektronix邏輯分析儀組合方便易用、對系統(tǒng)的干擾較小。

Tektronix邏輯分析儀生產(chǎn)線副總裁David Bennett說：“隨著FPGA密度和復雜性的不斷提高，設計人員正在尋求易于使用、效率更高的手段來調(diào)試器件內(nèi)部節(jié)點。Tektronix邏輯分析儀這一新的調(diào)試方案不但使設計團隊能夠查看其Altera FPGA設計的內(nèi)部運轉(zhuǎn)情況，還可以將這些內(nèi)部信號與電路板上的其他信號進行關聯(lián)?！?

Altera產(chǎn)品和公司營銷副總裁Danny Biran說：“隨著FPGA設計的復雜化，以及縮短設計周期壓力的增大，具備迅速調(diào)試FPGA的能力變得越來越關鍵，推動了對FPGAView等解決方案的需求。設計人員可以利用Tektronix邏輯分析儀和FPGAView自動調(diào)試過程的高級功能來迅速方便的完成其設計，達到產(chǎn)品面市的目標。”
FPGAView適用于所有的Tektronix TLA邏輯分析儀。此外，F(xiàn)PGAView可采用Altera的ByteBlaster?和USB-Blaster?編程電纜進行工作，而不必向邏輯分析儀手動輸入信號名稱。