首席LabVIEW專家團講解如何提高開發(fā)效率，與Python等多語言融合，全新開源LabVIEW框架，帶來最全面的LabVIEW新內(nèi)容。演講結(jié)束后專家團會繼續(xù)與使用者交流，回答問題及分享經(jīng)驗。

時間 演講嘉賓及主題
11:00~11:30 衡山
NI，Emerson T&M 資深客戶方案工程師
演講主題：LabVIEW新特性匯總及開發(fā)技巧分享

演講摘要：本技術會議將匯總介紹近年來LabVIEW的新特性，尤其是在提升測試開發(fā)效率上的新功能，從而使開發(fā)人員以最新的編程技術高效應對測試測量軟件開發(fā)的挑戰(zhàn)。同時將分享在LabVIEW使用過程中的部分內(nèi)外部工具以及技能，幫助您的代碼開發(fā)更規(guī)范更高效。
11:30~12:00 周曉霜
NI，Emerson T&M 首席技術支持工程師
演講主題：LabVIEW+與Python等多語言編程融合實踐

演講摘要：隨著新的技術比如無人駕駛，人工智能等快速發(fā)展迭代，對新的測試項目和方案落地時間的要求也越來越高。有效利用各種不同語言和平臺下已經(jīng)開發(fā)好的"輪子"并快速集成到整體的測試方案中來可以達到事半功倍的效果。LabVIEW+套件近幾年對其他語言集成支持持續(xù)改進。本主題會詳細介紹LabVIEW和Teststand對Python和.net的集成使用調(diào)試以及對gRPC的支持，互聯(lián)互通更快更好開發(fā)測試方案。
13:30~14:00 李遙
NI，Emerson T&M 資深應用工程師
演講主題：一種全新的開源LabVIEW編程框架- 可通訊狀態(tài)機框架

演講摘要：可通信狀態(tài)機（CSM）是一個基于JKI狀態(tài)機（JKISM）的全新開源的LabVIEW程序框架。它遵循JKISM的文本隊列模式，擴展了關鍵詞以描述模塊之間的消息通信，包括同步消息、異步消息、狀態(tài)訂閱/取消訂閱等概念。在本次演講中，將通過CSM基礎介紹、與DQMH/Actor Framework的比較、CSM復雜場景的案例分享，展示CSM簡潔、易測試、易拓展的優(yōu)勢。https://github.com/NEVSTOP-LAB/Communicable-State-Machine
14:00~14:30 宋軍龍
北京東方中科集成科技股份有限公司 業(yè)務拓展部經(jīng)理
演講主題：新環(huán)境下企業(yè)需要的數(shù)據(jù)采集測試方案

演講摘要：他將分享近年來國內(nèi)產(chǎn)業(yè)升級過程中測試方案發(fā)展變化，并已各類數(shù)采系統(tǒng)為例討論各行業(yè)客戶面對未來經(jīng)濟環(huán)境如何搭建自己的測試系統(tǒng)。
14:30~15:00 曹行
NI，Emerson T&M 中國射頻無線業(yè)務增長經(jīng)理
演講主題：NI射頻與無線平臺新產(chǎn)品介紹和應用分享

演講摘要：隨著B5G/6G，低空智聯(lián)，衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)等行業(yè)的方興未艾，射頻測試與無線原型驗證系統(tǒng)的需求也在快速變化，如何應對日益復雜的射頻系統(tǒng)的測試與驗證成為了行業(yè)的共性挑戰(zhàn)。NI利用其先進的測試儀器和平臺化的軟件定義能力，與工業(yè)屆和院?？蒲虚_展廣泛的合作，本次演講將基于NI第三代高性能的矢量信號收發(fā)機（VST）和軟件定義無線電平臺（USRP）的新產(chǎn)品進行展開，介紹新一代高性能的射頻測試與原型驗證方案，分享其應用演示和案例。
15:30~16:00 劉晉東
北京曾益慧創(chuàng)科技有限公司（IECUBE） CMO & CPO
演講主題：Empower Future Test Engineer - 淺談集成電路教研融合

演講摘要：集成電路是一個實踐性非常強的交叉綜合學科，學生需要掌握的許多知識和技能必須通過實踐教學環(huán)節(jié)來培養(yǎng)，為了更好的培養(yǎng)面向產(chǎn)業(yè)需求培養(yǎng)集成電路人才，對于實踐環(huán)節(jié)的升級改造和建設是一個重點，而這恰恰也是高校建好微電子和集成電路專業(yè)的難點所在：
1) 實踐教學體系無法覆蓋集成電路"設計-制造-封裝-測試"全產(chǎn)業(yè)鏈
2) 目前實踐教學環(huán)節(jié)使用的教學設備技術落后，無法與行業(yè)技術和需求接軌
3) 由于微電子和集成電路儀器設備成本高、易損耗、占用空間大，無法保證對學生獲得充分地實踐教學資源
為幫助高校解決上述提到的挑戰(zhàn)，更好的助力集成電路人才培養(yǎng)，北京曾益慧創(chuàng)科技有限公司（以下簡稱"IECUBE"）融合NI先進的測試平臺技術，推出了微電子和集成電路專業(yè)實訓中心建設解決方案。
16:00~16:30 莫映亮
NI，Emerson T&M 系統(tǒng)工程部高級經(jīng)理
演講主題：高性能DC測試- NI PXI源測量單元及其應用

演講摘要：源測量單元（SMU）被廣泛應用于新材料研究、光電器件測試、新能源、生命醫(yī)療和半導體測試等領域。NI擁有豐富的基于PXI平臺的模塊化SMU產(chǎn)品線，其產(chǎn)品本身擁有諸多獨特功能，再結(jié)合PXI平臺的優(yōu)勢，NI PXI SMU可以為相關應用領域提供高性能測試解決方案，在提高測試覆蓋率，降低測試成本，縮短產(chǎn)品上市時間等方面有獨特優(yōu)勢。


40+Demo齊亮相 產(chǎn)品平臺7大熱門Demo搶先劇透

現(xiàn)場將有40+Demo展出，產(chǎn)品平臺7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請期待。
     • 以LabVIEW為核心的開放軟件平臺
     • PXI模塊化智能測試平臺
     • 便攜式數(shù)據(jù)采集與控制平臺
     • USRP軟件無線電設備
     • 基于PXI的高帶寬矢量信號收發(fā)儀
     • NI矢量信號收發(fā)儀精確度的優(yōu)質(zhì)校準
     • 面向NI矢量信號收發(fā)儀的高精度故障診斷方案
*Demo以現(xiàn)場展示為準

實現(xiàn)半導體測試現(xiàn)代化，串聯(lián)芯片實驗室到量產(chǎn)測試的每個環(huán)節(jié)。分論壇涉及多種芯片的測試案例，如Wi-Fi 7，高速ADC，光電，高功率射頻器件等，并探索整合AI輔助的測試方法。

時間 演講嘉賓及主題
11:00~11:30 陳彩云
NI，Emerson T&M 半導體業(yè)務應用工程團隊經(jīng)理
演講主題：VST用于射頻前沿技術測試

演講摘要：本次演講將介紹最新的矢量信號收發(fā)器PXIe-5842 如何準確地生成和測量所需的寬帶調(diào)制信號，支持高達26.5GHz工作頻率與2GHz帶寬，可用于測試各種最新無線通信標準產(chǎn)品，包含Wi-Fi 7, UWB, 6G FR3…等；也可應用于航空航天與國防場景。具有數(shù)字和模擬脈沖調(diào)制功能，同時支持頻譜分析、信號分析和信號生成等傳統(tǒng)射頻功能，協(xié)助您克服各種測試挑戰(zhàn)。
11:30~12:00 徐佩
南京派格測控科技有限公司 市場部負責人
演講主題：高功率射頻器件測試技術

演講摘要：演講將介紹三種不同場景和應用的高功率測試技術，包含基站PA芯片測試，手機Tuner開關測試以及濾波器諧振器測試。主要介紹這些測試技術的測試方法和關鍵訣竅。
13:30~14:00 孫冶
NI，Emerson T&M 亞太區(qū)半導體業(yè)務經(jīng)理
演講主題：NI新一代射頻測試機介紹與應用分享

演講摘要：
• NI射頻測試機主要針對手機與路由器內(nèi)的射頻芯片，基站內(nèi)部的射頻芯片以及衛(wèi)星通信中的毫米波芯片。并能夠提供統(tǒng)一的平臺性方案。
• NI基于Silo的模塊化設計方案可以幫助客戶輕松升級與完善現(xiàn)有的測試機投資來支持新的射頻芯片的業(yè)務。
• NI使用實驗室性能級別的儀表在測試機中，可以提供客戶最佳的射頻測試性能與測試時間。
• 針對毫米波波束成型芯片的測試，NI提供業(yè)界獨家的快速幅度與相位掃描的測試技術方案并可以極大的節(jié)省客戶的測試時間。
14:00~14:30 駱劼行
上海孤波科技有限公司 產(chǎn)品經(jīng)理（測試自動化）
演講主題：AI 輔助的芯片硅后驗證實踐

演講摘要：隨著包括深度學習（DL）、大型語言模型（LLM）、強化學習（RL）在內(nèi)的機器學習技術的發(fā)展，芯片硅后驗證領域迎來了創(chuàng)新的機遇。本次會議將深入探討如何利用各種機器學習技術，優(yōu)化從芯片硅后驗證的測試需求出發(fā)，拆解測試用例并生成測試程序，收集測試結(jié)果并進行調(diào)試，回溯Spec指標進行對比并最終輸出Datasheet的全流程自動化過程。我們將探討在實際的芯片硅后驗證的工作流中應用最新的AI算法，提升效率并縮短開發(fā)周期。
14:30~15:00 陳勇
NI，Emerson T&M 主任系統(tǒng)架構(gòu)師
演講主題：高速 ADC(JESD204B) 測試方案

演講摘要：傳統(tǒng)的單lane 的CMOS/LVDS 接口只能覆蓋1~2Gbps 以下速率的數(shù)據(jù)傳輸，為了達到更高的傳輸速率，只能增加更多的接口，而更高速率的JESD204B/C 沒有此問題，因此更簡潔接口的JESD204B/C將會成為高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)内厔荩贘ESD204B/C的高速ADC 也會越來越普及，因此NI提出了基于PXIe-6594的高速ADC測試方案，此方案對JESD204B進行了高度的封裝，客戶不用花時間在204B的協(xié)議實現(xiàn)上，大大簡化了高速ADC的測試。
15:30~16:00 周鑫淼
中山市博測達電子科技有限公司 副總經(jīng)理
演講主題：針對量產(chǎn)的標準化FCT平臺設計

演講摘要：目前，在工業(yè)、醫(yī)療、能源、國防領域，存在著大量的多種類、小批量的量產(chǎn)自動化測試需求。博測達根據(jù)二十年的行業(yè)經(jīng)驗，總結(jié)出模塊化標準測試平臺，針對從手動測試到半自動化測試到全自動化測試提出完整的解決方案，并在多個頭部客戶中取得了非常優(yōu)秀的效果。
16:00~16:30 李成
NI，Emerson T&M 主任系統(tǒng)架構(gòu)師
演講主題：基于PXI平臺的光電子應用測試方案

演講摘要：AI、LLM和ML正在推動高性能計算蓬勃發(fā)展，數(shù)據(jù)高速傳輸是高性能計算的基礎，光電子則為高速數(shù)據(jù)傳輸提供了解決方案。光電子技術在高速演進的階段，遇到了多通道高密度傳輸、異質(zhì)集成等問題，也讓測試變得更加復雜具有挑戰(zhàn)；NI基于PXI平臺的解決方案，集成了電學和光學儀器，為光電混合信號的測試和測量提供了優(yōu)質(zhì)高效的平臺。


7大半導體熱門Demo

現(xiàn)場將有40+Demo展出，半導體7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請期待。
     • 使用 NI VST3 射頻儀器助力無線通信測試
     • 基于JESD204B協(xié)議的高速ADC量產(chǎn)測試方案
     • 基于PXI平臺光電混合板卡的MZM調(diào)制器測試方案
     • 基于STS VST3的Wi-Fi 7 EVM 測試及軟件解決方案
     • MCU自動化測試方案
     • 應變計測試儀
     • 一站式半導體測試解決方案
*Demo以現(xiàn)場展示為準

新能源汽車快速普及，軟件定義汽車不僅改變了汽車本身，也將帶來汽車測試上的革命。分論壇將圍繞軟件定義汽車，自動駕駛測試與車規(guī)半導體測試展開，探索全新的測試方法，以適應快速行業(yè)變革。

在商業(yè)航天，衛(wèi)星通信，院校科研等領域新技術不斷涌現(xiàn)，針對新的方案需要進行快速的原型開發(fā)和驗證。話題將涉及低空經(jīng)濟，數(shù)據(jù)鏈路，6G衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)，高?？蒲械?。