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互連總線的產(chǎn)品生命周期（下）

可攜式刺激源標(biāo)準(zhǔn)（PSS）是最新的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)，其用來(lái)規(guī)范測(cè)試意圖與行為，讓測(cè)試刺激源可重復(fù)套用到不同的目標(biāo)平臺(tái)。PSS不僅改變系統(tǒng)單芯片（SoC）傳統(tǒng)的確認(rèn)與驗(yàn)證方法，也帶來(lái)了許多優(yōu)點(diǎn)以及衍生不少挑戰(zhàn)。本文繼上篇從SystemC效能分析探索互連總線架構(gòu)的生命周期探討，下篇著重于分析解說(shuō)如何透過(guò)通用型PSS流量產(chǎn)生器進(jìn)行確認(rèn)與驗(yàn)證。隨著設(shè)計(jì)要求日趨復(fù)雜，驗(yàn)證技巧與方法也隨之不斷演進(jìn)?？蓴y式刺激源標(biāo)準(zhǔn)（PSS）是演進(jìn)的最新產(chǎn)物，它的目的是因應(yīng)測(cè)試可移植性的挑戰(zhàn)。新型PSS允許用戶建立測(cè)試意圖，藉以
關(guān)鍵字：互連總線產(chǎn)品生命周期 ADI PSS

可攜式刺激源標(biāo)準(zhǔn)（PSS）是最新的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)，其用來(lái)規(guī)范測(cè)試意圖與行為，讓測(cè)試刺激源可重復(fù)套用到不同的目標(biāo)平臺(tái)。PSS不僅改變系統(tǒng)單芯片（SoC）傳統(tǒng)的確認(rèn)與驗(yàn)證方法，也帶來(lái)了許多優(yōu)點(diǎn)以及衍生不少挑戰(zhàn)。本文探討這些流程演變，以及從SystemC效能分析探索互連總線架構(gòu)的生命周期，藉以透過(guò)通用型PSS流量產(chǎn)生器進(jìn)行確認(rèn)與驗(yàn)證。隨著設(shè)計(jì)要求日趨復(fù)雜，驗(yàn)證技巧與方法也隨之不斷演進(jìn)。可攜式刺激源標(biāo)準(zhǔn)（PSS）是演進(jìn)的最新產(chǎn)物，它的目的是因應(yīng)測(cè)試可移植性的挑戰(zhàn)。新型PSS允許用戶建立測(cè)試意圖，藉以重復(fù)套用到不同的目標(biāo)
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