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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 低頻噪聲

鎖定低頻噪聲，發(fā)現(xiàn)交流耦合與直流抑制在測(cè)量中的奧秘

  • _____交流耦合和直流抑制模式的應(yīng)用涉及直流電源軌的噪聲和/或紋波時(shí)，一種非常普遍的做法是，使用交流耦合示波器輸入或使用具有直流抑制功能的探頭。當(dāng)直流偏移不足時(shí)，用戶(hù)通常會(huì)選擇使用交流耦合或直流抑制設(shè)置。我們發(fā)現(xiàn)，由于關(guān)注清潔電源，用戶(hù)比以往任何時(shí)候都更有興趣了解其電源的電壓和噪聲特性。交流耦合和直流抑制探頭對(duì)比了解交流耦合和直流抑制模式本文探討了交流耦合和直流抑制模式一些可能出人意料或未知的特性，以及這些模式最終如何導(dǎo)致錯(cuò)誤的結(jié)論。當(dāng)我們考慮這兩種模式的功能時(shí)，可以想象將一個(gè)電容器串聯(lián)到示波器的輸入端
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高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用研究--高阻樣品噪聲測(cè)試解決方案

  • 3.2 高阻樣品噪聲測(cè)試解決方案為解決國(guó)內(nèi)外現(xiàn)有高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)中存在的問(wèn)題，本文設(shè)計(jì)了兩種噪聲測(cè)試技術(shù)作為解決方案，分別是一種電壓噪聲測(cè)試技術(shù)和一種電流噪聲測(cè)試技術(shù)。這兩種技術(shù)分別解決了前文中描
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高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用研究--測(cè)試技術(shù)介紹

  • 電壓噪聲測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)是一套同時(shí)基于軟件和硬件平臺(tái)的測(cè)試系統(tǒng)。其中硬件平臺(tái)由前端適配器、若干同軸電纜、放大電路、數(shù)據(jù)采集卡、計(jì)算機(jī)組成。軟件平臺(tái)由數(shù)據(jù)采集軟件模塊、數(shù)據(jù)分析模塊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊組成。硬件
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高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用研究文獻(xiàn)匯總,包括技術(shù)理論及解決方案

  • 電子器件或材料按其等效電阻大小可劃分為：高阻器件、中阻器件、低阻器件。根據(jù)傳統(tǒng)噪聲測(cè)試原理，改進(jìn)已有噪聲測(cè)試技術(shù)和測(cè)試方法還可以繼續(xù)測(cè)量一些等效阻值在該范圍之外的器件的噪聲，這些器件被定義為低阻器件或
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中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室采用是德科技低頻噪聲測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行器件可靠性研究

  • 是德科技公司(NYSE：KEYS)日前宣布，中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室在其半導(dǎo)體器件(包括 MOSFET、HEMT 和 TFT等)可靠性研究中成功采用 Keysight EEsof EDA E4727A 先進(jìn)低頻噪聲分析儀(A-LFNA)實(shí)施閃變?cè)肼?1/f 噪聲)和隨機(jī)電報(bào)噪聲
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高級(jí)模擬整合及低噪聲設(shè)計(jì)打造緊湊的醫(yī)用超聲方案

  • 摘要：本文簡(jiǎn)單列舉了緊湊醫(yī)用超聲設(shè)備的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，設(shè)備開(kāi)發(fā)人員所面臨的設(shè)計(jì)難題，并提出了應(yīng)對(duì)措施。
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低頻噪聲介紹

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