首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 信號去嵌測試

信號去嵌測試 文章 進入信號去嵌測試技術社區(qū)

利用新一代虛擬探測功能實現DDR等信號去嵌測試

  • 一、內存測試中的難點內存廣泛應用于各類電子產品中，內存測試也是產品測試中的熱點和難點。內存測試中最為關鍵的測試項目為DQ/DQS/CLK之間的時序關系。JEDEC規(guī)范規(guī)定測量這幾個信號之間的時序時測試點需要選擇在靠
  • 關鍵字： 虛擬探測  DDR  信號去嵌測試  
共1條 1/1 1

信號去嵌測試介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條信號去嵌測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對信號去嵌測試的理解，并與今后在此搜索信號去嵌測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網站地圖 - 聯系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網安備11010802012473