首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 內(nèi)容檢測

LSI推出業(yè)界首款針對內(nèi)容檢測的單芯片低成本解決方案

  • 　　LSI 公司(NYSE: LSI) 日前宣布面向網(wǎng)絡(luò)設(shè)備制造商推出了 Tarari® T1000 系列單芯片內(nèi)容檢測處理器。T1000 系列產(chǎn)品不僅可支持完全無需 RAM 的操作模式，還可支持單存儲器芯片操作模式，其吞吐量可擴(kuò)展至 2Gb/s，從而使設(shè)備制造商能夠利用單個(gè)開發(fā)設(shè)計(jì)方案，滿足多種不同性能水平的需求。此外，T1000系列產(chǎn)品對板級空間的占用僅為前代產(chǎn)品的十分之一。 　　T1000 系列產(chǎn)品是首款無需借助任何外部存儲器即能以 250～500 Mb/s數(shù)據(jù)速度完全獨(dú)立工作的正則表達(dá)式
  • 關(guān)鍵字： LSI  內(nèi)容檢測  
共1條 1/1 1

內(nèi)容檢測介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條內(nèi)容檢測!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對內(nèi)容檢測的理解，并與今后在此搜索內(nèi)容檢測的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473