內(nèi)建自測(cè)試 文章 進(jìn)入內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)社區(qū)
基于計(jì)數(shù)器的隨機(jī)單輸入跳變測(cè)試序列生成
- 隨著超大規(guī)模集成電路和系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)的發(fā)展，集成電路的測(cè)試面臨越來越多的困難，尤其在測(cè)試模式下的功...
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