首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 動態(tài)存儲測試

基于CPLD的溫度測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 1 系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案1.1 動態(tài)存儲測試所謂存儲測試技術(shù)，是指在對被測對象無影響或影響在允許范圍的條件下，在被測體內(nèi)置入微型存儲測試儀器，現(xiàn)場實(shí)時完成信息快速采集與存儲，事后回收記錄儀，由計(jì)算機(jī)處理和再現(xiàn)被測信
  • 關(guān)鍵字： 溫度測試系統(tǒng)  CPLD  動態(tài)存儲測試  
共1條 1/1 1

動態(tài)存儲測試介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條動態(tài)存儲測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對動態(tài)存儲測試的理解，并與今后在此搜索動態(tài)存儲測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473