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半導體參數(shù)測試 文章 進入半導體參數(shù)測試技術社區(qū)

英國Pickering公司發(fā)布新款開關保護模塊，面向半導體參數(shù)測試中的低漏電流測試

  • 英國Pickering公司作為用于電子測試和驗證的模塊化信號切換和仿真解決方案的領先供應商，于近日推出新型低漏電流開關解決方案，面向半導體測試，如WAT晶圓驗收測試中的低電流驅動保護測量。新款產品基于開關隨動保護層(switched guard)設計原理，提供PXI, PXIe和LXI版本，整體設計確保隔離電阻高達1013Ω。該產品系列包括三個系列，提供各種開關拓撲結構。PXI模塊40-121系列提供兩種SPST通用開關配置(13或26個)或2:1(8或16組)多路復用開關。PXI模塊40-590系列和P
  • 關鍵字： Pickering  開關保護模塊  半導體參數(shù)測試  低漏電流測試  
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半導體參數(shù)測試介紹

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