半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng) 文章 進(jìn)入半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)技術(shù)社區(qū)

吉時(shí)利發(fā)布4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)最新版

• 　　美國(guó)吉時(shí)利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布獲獎(jiǎng)產(chǎn)品——4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)的最新硬件和軟件升級(jí)版本，本次升級(jí)引入4200-SCS新一代脈沖測(cè)試功能。實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)的應(yīng)用將集成直流和脈沖測(cè)量功能與完整的應(yīng)用工具包結(jié)合，為用戶提供完整解決方案。功能增強(qiáng)的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導(dǎo)體技術(shù)生產(chǎn)和研究者們提供強(qiáng)大新功能。新升級(jí)版本不僅增強(qiáng)了吉時(shí)利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應(yīng)用解決方案，將4200-SCS通用直流與脈沖測(cè)量功能進(jìn)一步擴(kuò)展到新領(lǐng)域，例如Flash存儲(chǔ)器測(cè)試
• 關(guān)鍵字： 4200-SCS  半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)  測(cè)量  測(cè)試  吉時(shí)利