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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 單粒子效應(yīng)

SRAM型FPGA單粒子效應(yīng)試驗研究

  • 針對軍品級SRAM型FPGA的單粒子效應(yīng)特性,文中采用重離子加速設(shè)備,對Xilinx公司Virtex-II系列可重復(fù)編程FPGA中一百萬門的XQ2V1000進行輻射試驗。試驗中,被測FPGA單粒子翻轉(zhuǎn)采用了靜態(tài)與動態(tài)兩種測試方式。并且通過單粒子功能中斷的測試,研究了基于重配置的單粒子效應(yīng)減緩方法。試驗發(fā)現(xiàn)被測FPGA對單粒子翻轉(zhuǎn)與功能中斷都較為敏感,但是在注入粒子LET值達到42MeV.cm2/mg時仍然對單粒子鎖定免疫。
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一種FPGA單粒子軟錯誤檢測電路設(shè)計

  • 摘要：分析了FPGA器件發(fā)生單粒子效應(yīng)的空間分布特性，設(shè)計并實現(xiàn)了一種面向FPGA單粒子軟錯誤的檢測電路。將該電路放置在FPCA待檢測電路的附近，利
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單粒子效應(yīng)介紹

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