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羅德與施瓦茨發(fā)布在片器件測試解決方案

• 羅德與施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供測試解決方案，該方案結(jié)合了羅德與施瓦茨強大的R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和FormFactor先進的工程探針臺系統(tǒng)。半導體制造商可以在產(chǎn)品的開發(fā)、認證和生產(chǎn)階段執(zhí)行可靠且可重復的在片器件特性測試。 整個在片測量工作由R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與FormFactor SUMMIT200探針臺系統(tǒng)一起完成。5G 射頻前端設(shè)計師需要確保適當?shù)钠骷敵龉β屎蜕漕l帶寬，同時兼顧優(yōu)化器件效率。設(shè)計流程中的一個重要階段是驗證射頻設(shè)計，盡早獲得相關(guān)設(shè)
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