首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 奧林巴斯

奧林巴斯推出可觀察IC圖案顯微鏡

  • 　奧林巴斯將于2006年1月5日推出共焦掃描紅外激光顯微鏡（Confocal Laser Scanning Microscope）“LEXT OLS3000-IR”，能夠對FCB（Flip Chip Bonding，倒裝焊接）后的IC芯片圖案及其背面，以及MEMS內部結構進行詳細觀察。同時還可用作SiP（系統(tǒng)級封裝）技術的無損檢測工具。含稅價為1207萬5000日元。  　　利用老式紅外顯微鏡對IC芯片的背面等進行觀察時，根據(jù)芯片背面的
  • 關鍵字： 奧林巴斯  

奧林巴斯將推出可觀察IC芯片圖案的顯微鏡

  • 奧林巴斯將于2006年1月5日推出共焦掃描紅外激光顯微鏡（Confocal Laser Scanning Microscope）“LEXT OLS3000-IR”，能夠對FCB（Flip Chip Bonding，倒裝焊接）后的IC芯片圖案及其背面，以及MEMS內部結構進行詳細觀察。同時還可用作SiP（系統(tǒng)級封裝）技術的無損檢測工具。含稅價為1207萬5000日元。  　　利用老式紅外顯微鏡對IC芯片的背面等進行觀察時，根據(jù)芯片背面的研
  • 關鍵字： 奧林巴斯  
共17條 2/2 « 1 2

奧林巴斯介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條奧林巴斯!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對奧林巴斯的理解，并與今后在此搜索奧林巴斯的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

奧林巴斯    樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網安備11010802012473