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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 存儲(chǔ)器測(cè)試

SJTAG技術(shù)在ATCA體系的應(yīng)用(圖)

惠瑞捷增加并行機(jī)制以縮減存儲(chǔ)器測(cè)試開發(fā)時(shí)間

  • 　　惠瑞捷半導(dǎo)體科技宣布將可編程接口矩陣應(yīng)用于Verigy V5000e 工程工作站，以幫助存儲(chǔ)器制造商在應(yīng)用V5000e進(jìn)行工程，測(cè)試開發(fā)和調(diào)試時(shí)獲得并行測(cè)試能力。憑借該矩陣，V5000e 可以并行測(cè)試12顆芯片（DUT），減少產(chǎn)線上的操作人員的時(shí)間，同時(shí)大幅度提高了總產(chǎn)能。此矩陣還將V5000e的引腳數(shù)量從128提高到768個(gè)測(cè)試器資源引腳，從而能夠測(cè)量具有更高引腳數(shù)量的多種類型存儲(chǔ)器芯片，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。 　　由于產(chǎn)品壽命
  • 關(guān)鍵字： 并行機(jī)制  測(cè)量  測(cè)試  存儲(chǔ)器測(cè)試  單片機(jī)  惠瑞捷  開發(fā)時(shí)間  嵌入式系統(tǒng)  存儲(chǔ)器  
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存儲(chǔ)器測(cè)試介紹

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