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基于安捷倫VNA網(wǎng)絡(luò)分析儀實現(xiàn)長延時器件的測量
- 光纖長延時器件的特點與應(yīng)用 光纖通信在數(shù)字通信領(lǐng)域已得到相當(dāng)廣泛的應(yīng)用,且得到了快速的發(fā)展。由于光纖通訊具有帶寬寬、損耗低、抗干擾、保密性好、重量輕、性能價格比高等優(yōu)點,近年來通過光纖傳輸模擬信
- 關(guān)鍵字: VNA 安捷倫 網(wǎng)絡(luò)分析儀 長延時
基于安捷倫VNA網(wǎng)絡(luò)分析儀實現(xiàn)長延時器件的測量(07-100)
- 光纖通信在數(shù)字通信領(lǐng)域已得到相當(dāng)廣泛的應(yīng)用,且得到了快速的發(fā)展。由于光纖通訊具有帶寬寬、損耗低、抗干擾、保密性好、重量輕、性能價格比高等優(yōu)點,近年來通過光纖傳輸模擬信號特別是微波射頻信號在國際上研究十分活躍。
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脈沖S參數(shù)測量中的跟蹤技術(shù)的改進(08-100)
- 使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試 S參數(shù)通常是對被測器件施加連續(xù)波激勵來完成的,然而在某些情況下, S參數(shù)的測量必須使用脈沖激勵。例如,在測試諸如功率晶體管之類的非熱耦合被測器件的 S參數(shù)時,連續(xù)波激勵所積累的熱量可能會損壞被測器件,而使用脈沖激勵進行測量則可以安全地對這類器件的特性進行表征。通過正確選擇脈沖激勵的占空比,可以保證測量的平均功率保持在較低的水平,避免產(chǎn)生過熱現(xiàn)象。另一個需要進行脈沖 S參數(shù)測量的例子是對通常工作在脈沖或猝發(fā)信號狀態(tài)下——例如雷達系統(tǒng)和許多數(shù)字調(diào)制通信系統(tǒng)中的器件進行測量。今天,脈
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安捷倫科技與海力士半導(dǎo)體公司聯(lián)合推出用于驗證 DDR、GDDR 存儲器的長線 ZIF 探針
- 安捷倫科技公司宣布:安捷倫與全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體存儲器產(chǎn)品供應(yīng)商――海力士半導(dǎo)體公司(Hynix Semiconductor Inc.)攜手推出一款高帶寬、高性能的長線 ZIF(零插入力)探針,該探針經(jīng)過優(yōu)化,適用于 DDR(雙數(shù)據(jù)速率)和 GDDR(圖形雙數(shù)據(jù)速率)SDRAM 的驗證測試。當(dāng)距離探測信號較遠時,長線 ZIF 探針使工程師能夠?qū)Ω咚傩盘栠M行精確的測量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測系統(tǒng)結(jié)合使用,可提高每個焊接件的可用性并降低測試成本。
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安捷倫(agilent)科技公司介紹
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