首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 尼得科精密檢測科技

尼得科精密檢測科技推出半導體測溫探針卡及支持高電壓的加壓結(jié)構(gòu)探針卡

  • 尼得科精密檢測科技株式會社（以下簡稱“本公司”）子公司尼得科 SV Probe 正式發(fā)售以下產(chǎn)品：①半導體設備溫度測量探針卡“TC（熱電偶）探針卡”、②可支持高電壓的探針卡“加壓結(jié)構(gòu)探針卡”。近年來，電動汽車（EV）和工業(yè)設備等領域使用的功率半導體需求不斷增加，對高電壓、大電流功率半導體的檢測、特別是在高溫環(huán)境下進行更精確、高質(zhì)量檢測的需求日益增長。① “TC 探針卡”半導體設備溫度測量探針卡“TC 探針卡”是搭載了應用熱電偶技術(shù)的探針“TC 探針”的產(chǎn)品，可以像現(xiàn)有技術(shù)一樣與電極 PAD 接觸，在進行晶
  • 關(guān)鍵字： 尼得科精密檢測科技  半導體測溫探針卡  加壓結(jié)構(gòu)探針卡  

尼得科精密檢測科技將亮相SEMICON Japan 2024

  • 尼得科精密檢測科技株式會社將參展2024年12月11日(周三)～12月13日(周五)于東京國際會展中心舉辦的“SEMICON Japan 2024”（2024日本東京半導體展覽會）。在本屆展覽會上，尼得科精密檢測科技將展出針對IGBT/SiC功率半導體檢測設備、EV/HEV等驅(qū)動電機測試臺以及晶圓檢測夾具“探針卡”等新的解決方案。同時，還將介紹體現(xiàn)公司核心“測量”理念的半導體封裝基板電氣檢測系統(tǒng)“GATS系列”以及用于2D/3D測量微小凸點的光學檢測設備。基于公司長期積累的檢測技術(shù)，我們將提供新的檢測解決
  • 關(guān)鍵字： 尼得科精密檢測科技  SEMICON Japan  
共2條 1/1 1

尼得科精密檢測科技介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條尼得科精密檢測科技!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對尼得科精密檢測科技的理解，并與今后在此搜索尼得科精密檢測科技的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473