首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 并行測試

一種創(chuàng)新的晶圓級熱載子并行測試方法

  • 引言
    隨著VLSI集成度的日益提高,MOS器件尺寸不斷縮小至亞微米乃至深亞微米,熱載子效應已成為最嚴重的可靠性問題之一。現今,為了降低成本,減少周期,不斷的提高工藝,晶圓級的器件可靠性測試愈來愈被廣泛的應用??v觀
  • 關鍵字: 創(chuàng)新  并行測試  晶圓級  方法    

Keithley測試軟件增強并行測試、RF測試功能和軟件易用性

  • 美國吉時利(Keithley)儀器公司(NYSE代碼:KEI)日前發(fā)布面向S600系列參數測試系統(tǒng)的Keithley交互式測試平臺軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測試的吞吐量(如RF頻率測試),并增強了研發(fā)和生產過程中所涉及的并行測試能力。此外,經過升級的KTE V5.2軟件還大大增強了易用性、簡化了測試工作。 最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時利(Keithley)不斷改進測試平臺和增強固定設備重用性方面的一貫承諾,將助于測試工程師
  • 關鍵字: Keithley  RF測試功能  并行測試  參數測試軟件  測量  測試  軟件易用性  升級版  測試測量  

Keithley最新升級版參數測試軟件增強并行測試、RF測試功能和軟件易用性

  • 吉時利(Keithley)儀器公司(NYSE代碼:KEI)日前發(fā)布面向S600系列參數測試系統(tǒng)的Keithley交互式測試平臺軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測試的吞吐量(如RF頻率測試),并增強了研發(fā)和生產過程中所涉及的并行測試能力。此外,經過升級的KTE V5.2軟件還大大增強了易用性、簡化了測試工作。 最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時利(Keithley)不斷改進測試平臺和增強固定設備重用性方面的一貫承諾,將助于測試工程師們降
  • 關鍵字: Keithley  RF測試功能  并行測試  參數測試軟件  測量  測試  軟件易用性  測試測量  
共3條 1/1 1

并行測試介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條并行測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對并行測試的理解,并與今后在此搜索并行測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網站地圖 - 聯系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網安備11010802012473