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序列門控在掃描位移中實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的時(shí)序閉合

  • 在本文中，我們將首先快速回顧鎖存器與觸發(fā)器的時(shí)序基本概念。在下一節(jié)中，我們將介紹掃描鏈以及與其相關(guān)的時(shí)序...
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使用序列門控在掃描位移中實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的時(shí)序閉合

  • 如今，所有SOC都使用掃描結(jié)構(gòu)來檢測(cè)設(shè)計(jì)中的任何制造缺陷。掃描鏈專為測(cè)試而設(shè)計(jì)，按串行形式連接芯片的時(shí)序元件。由于掃描元件之間缺少組合邏輯，因此這些掃描鏈容易出現(xiàn)保持故障。除了采用小于90納米的技術(shù)外，OCV
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掃描位移介紹

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