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SOC設(shè)計(jì)驗(yàn)證方法的探索
- SOC設(shè)計(jì)驗(yàn)證方法的探索,一、引言 在片上系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)中,驗(yàn)證這一環(huán)節(jié)日益重要,整個(gè)過程中花在驗(yàn)證的時(shí)間比重越來越大,主要原因在于隨著SoC 芯片復(fù)雜度的提高,驗(yàn)證的規(guī)模也成指數(shù)級(jí)的增加。系統(tǒng)芯片的時(shí)代已經(jīng)到來,在RTL級(jí)硬件設(shè)
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