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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 探針

測試探針國產(chǎn)化,道阻且長

  • 芯片測試是確保產(chǎn)品良率和成本控制的重要環(huán)節(jié),主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能完全實現(xiàn)設(shè)計規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標(biāo),以此判斷芯片性能是否符合標(biāo)準(zhǔn),是否可以進(jìn)入市場。隨著產(chǎn)品進(jìn)入高性能 CPU、GPU、NPU、DSP 和 SoC 時代,芯片內(nèi)部集成的模塊越來越多,生產(chǎn)制造過程中的失效模式也相應(yīng)增多,芯片測試的重要性凸顯。測試探針就是芯片測試過程中的重要零部件之一。測試探針通常與測試機(jī)、分選機(jī)、探針臺配合使用,通過連接測試機(jī)來檢測芯片的導(dǎo)通、電流、功能和老化情況等性能指標(biāo),篩選出存在設(shè)計缺陷和制造缺陷的產(chǎn)品
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一種水位檢測方案的探針失效分析與研究

  • 一款帶水位檢測的產(chǎn)品在進(jìn)行加速老化壽命測試的時候發(fā)現(xiàn)水位檢測探針出現(xiàn)銹蝕、斷裂的故障,嚴(yán)重的還出現(xiàn)了水位檢測探針被銹蝕斷開的現(xiàn)象。經(jīng)過測試和分析,判斷為水位檢測電路設(shè)計缺陷,從而導(dǎo)致其中一根水位探針上電流過大引起的電解腐蝕和結(jié)垢問題。本文對失效原理進(jìn)行了分析并對電路設(shè)計進(jìn)行了改進(jìn),有效提高了探針壽命。
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Pasternack推出擴(kuò)展至40GHz工作頻率且采用彈簧頂針設(shè)計的同軸射頻探針產(chǎn)品線

  •   業(yè)界領(lǐng)先的射頻、微波及毫米波產(chǎn)品供應(yīng)商美國Pasternack公司最近將其射頻同軸探針產(chǎn)品線擴(kuò)展至40GHz工作頻率范圍,以應(yīng)用于微波器件、高速通信及網(wǎng)絡(luò)領(lǐng)域?! U(kuò)展后的Pasternack同軸射頻探針產(chǎn)品線共包括4種型號,其在直流~40GHz寬頻范圍內(nèi)的最大回波損耗為10dB。這些探針產(chǎn)品分為GS和GSG兩種構(gòu)型,間距為800或1500微米,并采用2.92mm接口。此外,此類射頻同軸探針均為鍍金探針,采用可在大角度范圍內(nèi)進(jìn)行探測的兼容彈簧頂針觸點,允許在帶或不帶探針定位器的情形下手動使用,并可通過
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LED醫(yī)療應(yīng)用更進(jìn)一步 科學(xué)家開發(fā)超細(xì)LED探針

  •   在找到治療阿爾茨海默癥的療法之前,科學(xué)家們需要開發(fā)出一種能夠讓他們更好地理解大腦神經(jīng)間是如何溝通的方案。而密歇根大學(xué)的研究人員們,最近就朝著這個目標(biāo)大幅邁進(jìn)了一步,并且開發(fā)出了當(dāng)前最小的腦植入式LED探針。在光遺傳學(xué)領(lǐng)域,植入光纖被用于刺激大腦細(xì)胞(讓其暴露于光脈沖下),而第二個設(shè)備則會記錄下一步的反應(yīng)。        密歇根大學(xué)的科學(xué)家們表示,這樣的設(shè)置其實不能記錄神經(jīng)元見相互溝通的方式,但是他們的新型探針卻可以。        每根探針的寬度都小于0.1mm
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一種新型的波導(dǎo)—微帶密封過渡結(jié)構(gòu)

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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全自動生化分析儀交叉污染處理的幾條建議

  • 隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,醫(yī)學(xué)生化檢驗全面步入現(xiàn)代化的進(jìn)程,全自動生化分析儀器為我們工作提供了快速、準(zhǔn)確...
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如何確定光譜信號就是所標(biāo)記探針的信號

  • 熒光成像已經(jīng)被用到基因、細(xì)胞和活體的研究中來,而在活體情況下所面臨的挑戰(zhàn)最多。1.自發(fā)熒光的可...
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合理選擇液位計

  • 和其他行業(yè)一樣,制藥業(yè)也越來越要求更高的生產(chǎn)力和更可靠的儀器。在需要用到連續(xù)液位計的時候,制藥商更愿意選...
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熱線測速計敏感元件的基本構(gòu)造

  • 1.熱線探針熱線探針的簡單模型如圖所示.細(xì)長的金屬絲垂直于氣流方向安置,兩端固定在相對粗大的支架上,金屬絲由...
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半導(dǎo)體參數(shù)測試的關(guān)鍵問題之一――探針的接觸電阻

  • 關(guān)鍵字:半導(dǎo)體參數(shù) 接觸電阻通常,參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應(yīng)。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至探針卡,然后通過探針至芯片
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基于單片機(jī)的靜電探針自動測量系統(tǒng)

  • 引言  靜電探針又稱langrnuir探針,是一種用來進(jìn)行等離子體參數(shù)測量的基本的診斷工具,通過靜電探針的,I-V特性曲線可以計算出等離子體的電子溫度、密度、空間電位和懸浮電位等重要參數(shù)。靜電探針,I-V特性曲線如圖
  • 關(guān)鍵字: 測量  系統(tǒng)  自動  探針  單片機(jī)  靜電  基于  

探針式智能溫度控制儀

  • 1 引言
    目前工業(yè)化作業(yè)工作溫度非常寬泛,若要準(zhǔn)確測量溫度需采用智能溫度控制儀。因此,該智能溫度控制儀以熱敏電阻外加恒流源作為溫度傳感器,將溫度信號以電壓信號形式采集,經(jīng)放大A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換,傳輸至單
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納米級電接觸電阻測量的新技術(shù)的研究

安捷倫科技與海力士半導(dǎo)體公司聯(lián)合推出用于驗證 DDR、GDDR 存儲器的長線 ZIF 探針

  •   安捷倫科技公司宣布:安捷倫與全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體存儲器產(chǎn)品供應(yīng)商――海力士半導(dǎo)體公司(Hynix Semiconductor Inc.)攜手推出一款高帶寬、高性能的長線 ZIF(零插入力)探針,該探針經(jīng)過優(yōu)化,適用于 DDR(雙數(shù)據(jù)速率)和 GDDR(圖形雙數(shù)據(jù)速率)SDRAM 的驗證測試。當(dāng)距離探測信號較遠(yuǎn)時,長線 ZIF 探針使工程師能夠?qū)Ω咚傩盘栠M(jìn)行精確的測量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測系統(tǒng)結(jié)合使用,可提高每個焊接件的可用性并降低測試成本。    
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毛細(xì)管電電化學(xué)發(fā)光微型分析儀研制成功

  • 由中科院長春應(yīng)化所完成的中科院科研裝備研制項目——毛細(xì)管電泳電化學(xué)發(fā)光微型綜合分析儀,近日在長春通...
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探針介紹

  測試針,用于測試PCBA的一種探針。   表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧?! √结樃鶕?jù)電子測試用途可分為:  A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針,國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;  B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;  C、 [ 查看詳細(xì) ]

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