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測試探針國產(chǎn)化,道阻且長
- 芯片測試是確保產(chǎn)品良率和成本控制的重要環(huán)節(jié),主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能完全實現(xiàn)設計規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標,以此判斷芯片性能是否符合標準,是否可以進入市場。隨著產(chǎn)品進入高性能 CPU、GPU、NPU、DSP 和 SoC 時代,芯片內(nèi)部集成的模塊越來越多,生產(chǎn)制造過程中的失效模式也相應增多,芯片測試的重要性凸顯。測試探針就是芯片測試過程中的重要零部件之一。測試探針通常與測試機、分選機、探針臺配合使用,通過連接測試機來檢測芯片的導通、電流、功能和老化情況等性能指標,篩選出存在設計缺陷和制造缺陷的產(chǎn)品
- 關鍵字: ?芯片測試 探針
Pasternack推出擴展至40GHz工作頻率且采用彈簧頂針設計的同軸射頻探針產(chǎn)品線

- 業(yè)界領先的射頻、微波及毫米波產(chǎn)品供應商美國Pasternack公司最近將其射頻同軸探針產(chǎn)品線擴展至40GHz工作頻率范圍,以應用于微波器件、高速通信及網(wǎng)絡領域?! U展后的Pasternack同軸射頻探針產(chǎn)品線共包括4種型號,其在直流~40GHz寬頻范圍內(nèi)的最大回波損耗為10dB。這些探針產(chǎn)品分為GS和GSG兩種構型,間距為800或1500微米,并采用2.92mm接口。此外,此類射頻同軸探針均為鍍金探針,采用可在大角度范圍內(nèi)進行探測的兼容彈簧頂針觸點,允許在帶或不帶探針定位器的情形下手動使用,并可通過
- 關鍵字: Pasternack 射頻探針 40GHz GS和GSG 探針 信號完整性測量
安捷倫科技與海力士半導體公司聯(lián)合推出用于驗證 DDR、GDDR 存儲器的長線 ZIF 探針
- 安捷倫科技公司宣布:安捷倫與全球領先的半導體存儲器產(chǎn)品供應商――海力士半導體公司(Hynix Semiconductor Inc.)攜手推出一款高帶寬、高性能的長線 ZIF(零插入力)探針,該探針經(jīng)過優(yōu)化,適用于 DDR(雙數(shù)據(jù)速率)和 GDDR(圖形雙數(shù)據(jù)速率)SDRAM 的驗證測試。當距離探測信號較遠時,長線 ZIF 探針使工程師能夠對高速信號進行精確的測量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測系統(tǒng)結合使用,可提高每個焊接件的可用性并降低測試成本。
- 關鍵字: 安捷倫,海力士半導體,ZIF 探針
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