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探針卡簡(jiǎn)化測(cè)試和替換流程

存儲(chǔ)器件持續(xù)不斷的降價(jià)壓力要求降低測(cè)試成本。很多公司通過(guò)同時(shí)測(cè)試更多的器件來(lái)提高吞吐率。過(guò)去的幾年里，測(cè)試探針卡的發(fā)展允許平行測(cè)試更多的器件——同時(shí)可測(cè)的待測(cè)器件（DUT）數(shù)量從32到64到128不斷
關(guān)鍵字：探針卡測(cè)試流程

　　市場(chǎng)研究公司VLSI Research的報(bào)告指出，2008年全球經(jīng)濟(jì)衰退對(duì)用于晶圓測(cè)試的探針卡市場(chǎng)造成了嚴(yán)重的影響，2009年市場(chǎng)銷售收入將進(jìn)一步下滑。2008年探針卡市場(chǎng)收入減少26.9%，而IC市場(chǎng)收入僅下滑4.2%。市場(chǎng)虛弱的主要原因是存儲(chǔ)制造商大幅減少支出。預(yù)計(jì)2009年探針卡市場(chǎng)將進(jìn)一步下滑24.5%，降至7.7億美元。
關(guān)鍵字：晶圓探針卡 IC

　　據(jù)市場(chǎng)研究公司VLSI Research最新發(fā)表的研究報(bào)告稱，半導(dǎo)體行業(yè)疲軟使集成電路晶圓探針卡2007年的銷售收入增長(zhǎng)率降到了五年平均增長(zhǎng)率（13.9%）的一半。這篇報(bào)告警告稱，2008年內(nèi)存集成電路市場(chǎng)廠商來(lái)說(shuō)將是更困難的一年。2008年集成電路晶圓探針卡銷售收入將達(dá)到14.1億美元，比2007年的13.6億美元增長(zhǎng)3.4%。　　在2007年，美國(guó)的FormFactor公司和日本的Micronics Japan公司以及日本的JEM公司繼續(xù)保持晶圓探針卡市場(chǎng)的領(lǐng)先地位。韓國(guó)的Phicom公司的排
關(guān)鍵字：晶圓探針卡半導(dǎo)體集成電路

　　美國(guó)吉時(shí)利（Keithley）儀器公司，日前宣布授權(quán)位于加利福尼亞利弗莫爾的FormFactor公司為吉時(shí)利半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀制造高性能參數(shù)測(cè)試探針卡。FormFactor公司所提供的探針卡將應(yīng)用于吉時(shí)利S600系列參數(shù)測(cè)試儀，進(jìn)行測(cè)量超低直流電流，以及對(duì)接觸半導(dǎo)體晶圓的PIN腳進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)直流參數(shù)測(cè)試。晶圓制造商和代工廠可以采用S600系列測(cè)試儀對(duì)用于組裝和封裝的晶圓進(jìn)行合格性檢測(cè)或工藝監(jiān)測(cè)。　　FormFactor公司Takumi探針卡非常適合于吉時(shí)利最先進(jìn)的參數(shù)測(cè)試儀——S680型直流/射頻參數(shù)測(cè)
關(guān)鍵字：探針卡吉時(shí)利 FormFactor 測(cè)試測(cè)量

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