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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 故障測試

用于故障測試的板載固定裝置

  • 如果您的電路設(shè)計(jì)要求容忍某些故障并它們的發(fā)生，您將需要在測試和啟動(dòng)過程中測試設(shè)計(jì)的故障檢測和保護(hù)功能。為了簡化此測試，請考慮在原型印刷電路板中構(gòu)建故障注入裝置和功能。如果您的電路設(shè)計(jì)要求容忍某些故障并它們的發(fā)生，您將需要在測試和啟動(dòng)過程中測試設(shè)計(jì)的故障檢測和保護(hù)功能。為了簡化此測試，請考慮在原型印刷電路板中構(gòu)建故障注入裝置和功能。過壓和欠壓監(jiān)控您可以在設(shè)計(jì)中構(gòu)建電路，以強(qiáng)制電壓監(jiān)控器檢測到過壓或欠壓事件。對于帶有數(shù)字接口的電源，您可能只需要暴露通信引腳。對于沒有數(shù)字接口的電源，您需要暴露反饋引腳。調(diào)制輸出
  • 關(guān)鍵字： 故障測試  

基于ARM和CPLD的橫機(jī)機(jī)頭電路測試系統(tǒng)

  • 為解決電腦橫機(jī)機(jī)頭控制系統(tǒng)信號的測試可靠性問題,基于低成本、高效率的考慮,研究設(shè)計(jì)了機(jī)頭控制系統(tǒng)電路板的批量測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用TI公司的LM 3S5R31芯片作為系統(tǒng)的核心部分,通過CPLD進(jìn)行I/O擴(kuò)展及輔助控制,使得系統(tǒng)功能靈活強(qiáng)大。將同一信號通路中的前后級元件信號進(jìn)行編碼,向待測板發(fā)送握手信號并使之發(fā)送反饋信號,該系統(tǒng)將反饋信號進(jìn)行采樣并在程序中比較計(jì)算,制作了實(shí)物并進(jìn)行了大量實(shí)驗(yàn)。
  • 關(guān)鍵字： 故障測試  I/O擴(kuò)展  CPLD  
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故障測試介紹

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