- 微控制器越來越多地用于各種電子領(lǐng)域,例如自動(dòng)化、工業(yè)控制中。隨著金屬氧化物半導(dǎo)體的硅晶體管幾何尺寸的不斷縮小,系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的電磁兼容性(EMC)問題,成為采胳膊小尺寸器件進(jìn)行設(shè)計(jì)的必須考慮的主要問題。在嵌入式
- 關(guān)鍵字:
方法 軟件編程 抗干擾 控制器
- 0 引言 在微波網(wǎng)絡(luò)中,同軸連接器是引起互調(diào)的主要來源。同軸連接器的非線性特性是引起互調(diào)的主要原因。準(zhǔn)確確定同軸連接器的無源互調(diào)對(duì)整個(gè)射頻系統(tǒng)設(shè)計(jì)有重大的意義。目前大多數(shù)的連接器生產(chǎn)廠家采用的測(cè)試方法
- 關(guān)鍵字:
PIM 分析儀 測(cè)試 方法
- 過去LED 業(yè)者為了獲得充分的白光LED 光束,曾經(jīng)開發(fā)大尺寸LED芯片 試圖藉此方式達(dá)到預(yù)期目標(biāo)。不過,實(shí)際上白光LED的施加電力持續(xù)超過1W以上時(shí)光束反而會(huì)下降,發(fā)光效率相對(duì)降低20~30%.換句話說,白光LED的亮度如果要
- 關(guān)鍵字:
解決 方法 問題 溫升 LED 白光
- 1 我國(guó)節(jié)能燈生產(chǎn)主要存在的問題我國(guó)節(jié)能燈生產(chǎn)發(fā)展迅猛,每年以30% ~40%的速度增長(zhǎng),目前其規(guī)模在世界上所占的比重已達(dá)80%左右。但遺憾的是,我國(guó)的節(jié)能燈生產(chǎn)仍然存在許多問題,我國(guó)只能算是節(jié)能燈生產(chǎn)大國(guó),而不是強(qiáng)
- 關(guān)鍵字:
方法 探討 解決 問題 生產(chǎn)中 節(jié)能燈
- 本文分析了傳統(tǒng)IC設(shè)計(jì)流程存在的一些缺陷,并且提出了一種基于Logical Effort理論的全新IC設(shè)計(jì)方法。 眾所周知,傳統(tǒng)的IC設(shè)計(jì)流程通常以文本形式的說明開始,說明定義了芯片的功能和目標(biāo)性能。大部分芯片被劃分成便于
- 關(guān)鍵字:
Logical Effort IC設(shè)計(jì) 方法
- 摘要 為提高雷達(dá)對(duì)低空或海面快速運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的檢測(cè)和連續(xù)跟蹤測(cè)量的能力,論述用基于MTI技術(shù)對(duì)固定目標(biāo)、海雜波進(jìn)行相位對(duì)消,以在最大程度上對(duì)其進(jìn)行衰減,使運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的回波得以保留,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的快速檢測(cè)與
- 關(guān)鍵字:
MTI 雷達(dá) 方法 識(shí)別
- 摘要:星載計(jì)算機(jī)系統(tǒng)處于空間輻照環(huán)境中,可能會(huì)受到單粒子翻轉(zhuǎn)的影響而出錯(cuò),三模冗余就是一種對(duì)單粒子翻轉(zhuǎn)有效的容錯(cuò)技術(shù)。通過對(duì)三模冗余加固電路特點(diǎn)的分析,提出了在ASIC設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)三模冗余的2種方法。其一是通
- 關(guān)鍵字:
方法 實(shí)現(xiàn) 設(shè)計(jì) ASIC 余在
- 系統(tǒng)調(diào)試信息的顯示方法,摘要:提出在目標(biāo)系統(tǒng)脫離開發(fā)系統(tǒng)運(yùn)行時(shí),如何通過串口在Windows的超級(jí)終端軟件中顯示調(diào)試信息的一個(gè)具體方法。該方法有助于改進(jìn)調(diào)試質(zhì)量、縮短調(diào)試周期。1 ROM版本目標(biāo)系統(tǒng)的調(diào)試問題一般的目標(biāo)系統(tǒng)在開發(fā)工具環(huán)境
- 關(guān)鍵字:
方法 顯示 信息 調(diào)試 系統(tǒng)
- 將單片機(jī)內(nèi)置或?qū)S每删幊潭〞r(shí)/計(jì)數(shù)器作脈沖發(fā)生器,一般輸入脈沖由晶振產(chǎn)生經(jīng)過整形或分頻后形成,有很高的頻率準(zhǔn)確度和穩(wěn)定度。設(shè)輸入脈沖頻率為fin,期望輸出脈沖頻率為f,應(yīng)置入脈沖發(fā)生器的計(jì)數(shù)值N=fin/f。當(dāng)f為
- 關(guān)鍵字:
頻率 準(zhǔn)確度 方法 輸出 提高 定時(shí) 計(jì)數(shù)器 可編程
- 摘要:以基于靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(SRAM)的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)為例,在傳統(tǒng)的三次測(cè)試方法的基礎(chǔ)上提出了一種新穎的針對(duì)FPGA互聯(lián)資源的測(cè)試方法。該方法運(yùn)用了層次化的思想,根據(jù)開關(guān)矩陣中可編程互聯(lián)點(diǎn)(PIP)兩端連線資
- 關(guān)鍵字:
FPGA 互聯(lián) 方法 資源測(cè)試
- 對(duì)天線與某個(gè)應(yīng)用進(jìn)行匹配需要進(jìn)行精確的天線測(cè)量。天線工程師需要判斷天線將如何工作,以便確定天線是否適合特定的應(yīng)用。這意味著要采用天線方向圖測(cè)量(APM)和硬件環(huán)內(nèi)仿真(HiL)測(cè)量技術(shù),在過去5年中,國(guó)防部門對(duì)這
- 關(guān)鍵字:
天線測(cè)試 方法
- 數(shù)字邏輯電路C語言描述方法介紹,摘要:為了改進(jìn)數(shù)字邏輯電路教學(xué)方法以適應(yīng)電子技術(shù)迅猛發(fā)展的需要,我們探索和實(shí)踐了數(shù)字邏輯電路教學(xué)的新方法,這就是基于計(jì)算機(jī)高級(jí)語言(C語言)的數(shù)字邏輯電路課堂教學(xué)和實(shí)驗(yàn)教學(xué)方法,本文重點(diǎn)介紹了本教學(xué)方法
- 關(guān)鍵字:
方法 介紹 描述 語言 邏輯 電路 數(shù)字
- 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />1、掌握A/ D轉(zhuǎn)換與單片機(jī)的接口方法。
2、了解A/ D芯片0809轉(zhuǎn)換性能及編程方法。
3、通過實(shí)驗(yàn)了解單片機(jī)如何進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。
二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
1、實(shí)驗(yàn)原理圖:
2、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
利用
- 關(guān)鍵字:
單片機(jī) 實(shí)驗(yàn) 方法 轉(zhuǎn)換 A/ 接口
- 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />掌握用繼電器控制的基本方法和編程。
二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
1、 實(shí)驗(yàn)原理圖:
2、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
利用P1口輸出高低電平,控制繼電器的開合,以實(shí)現(xiàn)對(duì)外部裝置的控制。
3、預(yù)備知識(shí)
現(xiàn)
- 關(guān)鍵字:
控制 方法 實(shí)驗(yàn) 繼電器
- 目前,AC電源結(jié)合控制方式主要包括以下幾種:
1.原邊反饋電源。該技術(shù)用于小功率LED燈具驅(qū)動(dòng),用原有原邊反饋充電器開關(guān)電源移植而來。這部分AC驅(qū)動(dòng)沒有因LED應(yīng)用而改變規(guī)格,有著諸多的型號(hào)供選擇。除體積受
- 關(guān)鍵字:
主要 方法 電源 AC 控制 結(jié)合 LED
方法介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條方法!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)方法的理解,并與今后在此搜索方法的朋友們分享。
創(chuàng)建詞條