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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 校驗(yàn)

基于20位DAC--AD5791的高精度電壓源的設(shè)計(jì)

  • 摘要:為設(shè)計(jì)出高精度的標(biāo)準(zhǔn)電壓源,本文通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)電壓源的生成過(guò)程來(lái)分析基準(zhǔn)電壓源對(duì)數(shù)模轉(zhuǎn)換器的要求從而選擇AD5791。并通過(guò)AD5791的硬件特性和軟件
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為什么流量?jī)x表現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)確度低于校驗(yàn)?

  • 流量?jī)x表的生產(chǎn)廠家在儀表出廠前都應(yīng)在實(shí)驗(yàn)室標(biāo)定其準(zhǔn)確度,一般宣稱都在±1%左右。而在現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際應(yīng)用中,絕大...
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PIC單片機(jī)CRC校驗(yàn)程序

  • 用PIC單片機(jī)和Dallas的iButtON通訊時(shí),編了段產(chǎn)生和校驗(yàn)CRC的子程序。#include;-------------------------------cblock 0x20datBuff:8 ;assign 8 byte data bufferbit_cnt ;bit countingCRC_COUNT ;number of bytes
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解讀CRC的校驗(yàn)原理

  • 解讀CRC的校驗(yàn)原理,隨著數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的功能日益強(qiáng)大,以及微型計(jì)算機(jī)的普及,在現(xiàn)代工業(yè)中,利用微機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊的工業(yè)控制應(yīng)用得也越來(lái)越廣泛。特別是在大規(guī)模高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和計(jì)算將占用很大一部分單片機(jī)的資
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IP協(xié)議校驗(yàn)算法程序源碼

  •  IP 協(xié)議采用統(tǒng)一的校驗(yàn)算法,其計(jì)算比較簡(jiǎn)單:設(shè)校驗(yàn)和初值為0,然后對(duì)數(shù)據(jù)每16位求異或,結(jié)果取反,便得校驗(yàn)和。校驗(yàn)時(shí)將數(shù)據(jù)(含校驗(yàn)和)按同樣的算法求和,結(jié)果為0則數(shù)據(jù)正確,不為0表示通訊出錯(cuò),需要丟棄該數(shù)
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CRC校驗(yàn)源碼分析

  • CRC校驗(yàn)源碼分析,CRC 根據(jù)”權(quán)”(即多項(xiàng)表達(dá)式)的不同而相應(yīng)的源代碼也有稍許不同。以下是各種常用的權(quán)?! RC8=X8+X5+X4+1  CRC-CCITT=X16+X12+X5+1  CRC16=X16+X15+X5+1  CRC12=X12+X11+X3+X2+1  CRC32=X32+X2
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容錯(cuò)系統(tǒng)中的自校驗(yàn)技術(shù)及實(shí)現(xiàn)方法

  • 容錯(cuò)系統(tǒng)中的自校驗(yàn)技術(shù)及實(shí)現(xiàn)方法,摘要:闡述了自校驗(yàn)技術(shù)在容錯(cuò)系統(tǒng)中的作用,給出了自校驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)原理及實(shí)現(xiàn)方法,指出用VHDL語(yǔ)言結(jié)合FPGA/CPLD是實(shí)現(xiàn)大規(guī)模自校驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)的有效途徑。關(guān)鍵詞:容錯(cuò)自校驗(yàn)完全自校驗(yàn)VHDLFPGA/CPLD容錯(cuò)是容忍錯(cuò)誤的簡(jiǎn)稱
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循環(huán)冗余校驗(yàn)碼的單片機(jī)及CPLD實(shí)現(xiàn)

  • 1 基本原理串行數(shù)據(jù)的差錯(cuò)檢驗(yàn)是保證數(shù)據(jù)正確的必要手段,通常采用奇遇校驗(yàn)法和循環(huán)冗余校驗(yàn)法。這兩種方法都是通過(guò)冗余數(shù)據(jù)來(lái)提供必要信息。奇偶校驗(yàn)法適用于以字節(jié)為單位數(shù)據(jù)傳輸。例如用偶校驗(yàn)傳送1個(gè)ASCII字符時(shí)
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CRC校驗(yàn)碼在單片機(jī)中的程序?qū)崿F(xiàn)及其冗余碼表的求取

  • 由單片機(jī)嵌入式系統(tǒng)與微機(jī)組成的工業(yè)檢測(cè)和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,計(jì)算機(jī)與單片機(jī)之間經(jīng)常需要進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。在數(shù)字通信過(guò)程中,干擾有可能使接收到的二進(jìn)制數(shù)和發(fā)送的不一致,造成“0”和“1”互變的
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USB 3.0中的CRC校驗(yàn)原理及實(shí)現(xiàn)

  • 摘要:循環(huán)冗余(CRC)是USB協(xié)議中重要的錯(cuò)誤檢測(cè)措施。在此分析了USB 3.0數(shù)據(jù)包的基奉格式以及USB 3.0協(xié)議中CRC校驗(yàn)的特點(diǎn),針對(duì)USB 3.0數(shù)據(jù)高速傳輸?shù)囊?,設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)并行發(fā)送端CRC產(chǎn)生和接收端CRC校驗(yàn)電路,功能仿
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實(shí)時(shí)嵌入式系統(tǒng)模型校驗(yàn)技術(shù)

  • 實(shí)時(shí)嵌入式系統(tǒng)模型校驗(yàn)技術(shù),模型校驗(yàn)是最成功的需求驗(yàn)證工具。模型校驗(yàn)的基本原理如圖1所示。模型校驗(yàn)工具的輸入是系統(tǒng)需求或設(shè)計(jì)(稱為模型)以及最終系統(tǒng)期望實(shí)現(xiàn)的特性(稱為“規(guī) 范”)。如果給定的模型滿足給定的規(guī)范,那么工具將輸
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一種改進(jìn)的擴(kuò)展RC-LDPC碼校驗(yàn)矩陣構(gòu)造方法

  • 摘要:簡(jiǎn)要介紹了一種具有Z型結(jié)構(gòu)的擴(kuò)展式RC-LDPC碼校驗(yàn)矩陣的構(gòu)造方法,針對(duì)構(gòu)造中會(huì)出現(xiàn)4環(huán)的情況,提出了一種消除4環(huán)的方法,并基于非規(guī)則LDPC碼中信息節(jié)點(diǎn)不同度分布對(duì)性能產(chǎn)生不同影響的特點(diǎn),提出了一種改進(jìn)的
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循環(huán)冗余校驗(yàn)確保正確的數(shù)據(jù)通信

  • 在工業(yè)環(huán)境中,電子系統(tǒng)通常工作在極端的溫度條件下,或處于電子噪聲環(huán)境,或是其它惡劣條件,而系統(tǒng)在這種條件下能否正常工作至關(guān)重要。舉例來(lái)說(shuō),如果發(fā)送給控制機(jī)器臂位置的DAC 的數(shù)據(jù)遭到破壞,機(jī)器臂就會(huì)按
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采用匯編語(yǔ)言的BCH解碼校驗(yàn)算法

  • 在信號(hào)傳輸中,BCH碼被廣泛應(yīng)用于動(dòng)態(tài)的實(shí)時(shí)無(wú)線通信中,而底層的單片機(jī)級(jí)信號(hào)傳輸往往只采用奇偶校驗(yàn)等簡(jiǎn)單方法。本文結(jié)合一些測(cè)控系統(tǒng)和監(jiān)控系統(tǒng)的開發(fā),提出一種用匯編語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)BCH解碼校驗(yàn)的算法,該算法包括BCH碼
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基于匯編語(yǔ)言的BCH解碼校驗(yàn)算法

  • 在信號(hào)傳輸中,BCH碼以其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)被廣泛應(yīng)用于微機(jī)級(jí)的通信中,但因其算法復(fù)雜,通常只用在動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)的無(wú)線通信中,而對(duì)更底層的單片機(jī)級(jí)的信號(hào)傳輸糾錯(cuò),往往只采用奇偶校驗(yàn)等簡(jiǎn)單的校驗(yàn)方法。本文結(jié)合一些測(cè)控系統(tǒng)
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校驗(yàn)介紹

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