首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試環(huán)境

HALT試驗與一般環(huán)境試驗的區(qū)別

  • HALT試驗中的低溫、高溫應(yīng)力試驗在試驗前不能確定樣品的試驗最低、最高溫度，試驗?zāi)康氖钦页鰳悠返牡蜏?、高溫操作及破壞極限。
  • 關(guān)鍵字： HALT試驗  測試環(huán)境  

有效控制透氣性測試的濕度

  • 實現(xiàn)測試環(huán)境的溫濕度控制是檢測包裝材料在實際應(yīng)用環(huán)境中透氣性能的條件之一，可為避免由于環(huán)境變化而導(dǎo)致的...
  • 關(guān)鍵字： 測試環(huán)境  透氣性測試  濕度控制  
共2條 1/1 1

測試環(huán)境介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條測試環(huán)境!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試環(huán)境的理解，并與今后在此搜索測試環(huán)境的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473