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一種用于測(cè)試電容的電路

  • 電解電容會(huì)隨時(shí)間而泄漏。圖1中的電路可以用來測(cè)試電容，決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對(duì)泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測(cè)試，從1nF的陶瓷電容，到1000mu;F的電解電容。電路中，
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用于測(cè)試電容的電路

  • 電解電容會(huì)隨時(shí)間而泄漏。圖1中的電路可以用來測(cè)試電容，決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對(duì)泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測(cè)試，從1nF的陶瓷電容，到1000mu;F的電解電容。電路中，
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測(cè)試電容介紹

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