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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試覆蓋率

基于故障映射的FPGA互連資源故障測(cè)試與定位

  • 由于FPGA互聯(lián)資源故障定位是FPGA故障測(cè)試的一個(gè)難點(diǎn)，尤其需要準(zhǔn)確地判斷故障的類型和精確地定位故障的位置，因此文中提出一種通過故障映射方法將SRAM型FPGA的互連資源故障映射到LUT的輸出上，間接地測(cè)試與定位互連資源故障的一種方法。
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消息驅(qū)動(dòng)測(cè)試平臺(tái)可以改善測(cè)試覆蓋率

  • 傳統(tǒng)的測(cè)試平臺(tái)實(shí)現(xiàn)只能按順序設(shè)置工作參數(shù)，無(wú)法動(dòng)態(tài)響應(yīng)被測(cè)設(shè)備的要求。因此這種測(cè)試方法會(huì)遺漏軟件和硬件之間的某些復(fù)雜時(shí)序交互。隨著FPGA功能的逐漸強(qiáng)大，軟件和FPGA之間的交互信息量也在不斷增加。本文討論的
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測(cè)試覆蓋率介紹

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