首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試負(fù)載

優(yōu)化測試單元產(chǎn)能：Multitest的MT2168充分利用先進(jìn)測試儀性能

  • 　　面向集成設(shè)備制造商（IDM）和最終測試分包商，設(shè)計(jì)和制造測試分選機(jī)、測試座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其MT2168的設(shè)計(jì)旨在實(shí)現(xiàn)最佳測試儀利用率。短Index時間（DUT交換時間）、快速上料與分類以及超大器件預(yù)熱能力均支持分選機(jī)與新一代測試儀保持同步。 　　理想情況下，如果分選機(jī)沒有局限性，增強(qiáng)的測試儀性能從兩方面優(yōu)化了測試單元產(chǎn)能：它們得益于更短測試時間和更高測試并行性的應(yīng)用。 　　目前很多先進(jìn)的分選機(jī)不能支持增強(qiáng)的測試儀性能，即使它們擁有多個相應(yīng)的測試位亦是如此
  • 關(guān)鍵字： Multitest  測試負(fù)載  測試座  

Multitest推出Plug&Yield優(yōu)化測試單元設(shè)置

  • 　　面向集成設(shè)備制造商（IDM）和最終測試分包商，設(shè)計(jì)和制造測試分選機(jī)、測試座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前推出Plug&Yield®——一款比其他所謂的“整體”解決方案融合更多元素的獨(dú)特產(chǎn)品。Multitest不僅作為整個項(xiàng)目的負(fù)責(zé)任的合作伙伴優(yōu)化了項(xiàng)目管理，亦確保了最佳上市時間。下面的案例研究描述了一個項(xiàng)目，針對該項(xiàng)目，Multitest結(jié)合先進(jìn)仿真工具成功應(yīng)用了并行工程方法，旨在針對頗具挑戰(zhàn)性的需要室溫-高溫-低溫測
  • 關(guān)鍵字： Multitest  測試負(fù)載  
共2條 1/1 1

測試負(fù)載介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條測試負(fù)載!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試負(fù)載的理解，并與今后在此搜索測試負(fù)載的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473