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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)量測(cè)試

真空斷路器常見(jiàn)故障分析和處理辦法

  • 本文從真空斷路器運(yùn)行中常見(jiàn)的故障著手，進(jìn)行故障分析和提供處理方法，希望可以增加用戶對(duì)真空斷路器方面的技術(shù)積累。常見(jiàn)的高壓真空斷路器故障分析與
  • 關(guān)鍵字： 測(cè)量測(cè)試  電阻  

LED成像分布光度計(jì)的研究

  • LED成像分布光度計(jì)的研究,本文探討了目前LED分布光度計(jì)的發(fā)展?fàn)顩r，主要是對(duì)基于成像光度學(xué)，采用CCD或是數(shù)碼相機(jī)作為分布光度測(cè)量手段的儀器進(jìn)行了分析和研究.此研究根據(jù)LED為半面發(fā)光的特點(diǎn)，采用拋物面反射器的設(shè)置，對(duì)LED的發(fā)光進(jìn)行聚光反射，LED方向可通過(guò)步進(jìn)馬達(dá)進(jìn)行一定角度的轉(zhuǎn)換，從而得到不同角度位置的光斑，使用CCD或是數(shù)碼相機(jī)進(jìn)行測(cè)試.得到LED反射的發(fā)光光斑后，通過(guò)合適的圖像處理，可根據(jù)光斑得到LED的配光曲線.
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十五年磨礪 PXI應(yīng)用迎來(lái)黃金時(shí)代

  • 基于PCI的PXI標(biāo)準(zhǔn)從1997年被提出以來(lái)，作為挑戰(zhàn)存在已久的VXI出現(xiàn)的新鮮面孔，借助PC平臺(tái)的快速發(fā)展，PXI技術(shù)以驚人的速度在測(cè)試和控制應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。在PXI快速發(fā)展的過(guò)程中，1998年成立的PXI系統(tǒng)聯(lián)盟起了重要的推廣作用，系統(tǒng)聯(lián)盟在1999年就達(dá)到了50家，為PXI的起跑提供了強(qiáng)有力的支撐。
  • 關(guān)鍵字： PXI  測(cè)量測(cè)試  201210  

利用電子傳感器測(cè)量測(cè)試的方法

  • 小玻璃式熱敏電阻的制造就稍有不同，它是把兩條適合高溫的導(dǎo)線，一般是白金細(xì)線涂上一滴含有氧化物的泥團(tuán)，經(jīng)焙燒后浸入熔化的玻璃，結(jié)果產(chǎn)生的高溫器件比徐上環(huán)氧樹(shù)脂的碟式電阻一般更為穩(wěn)定，但卻不能調(diào)節(jié)，制造商通過(guò)單位測(cè)量試驗(yàn)供應(yīng)適合精確用途的熱敏電阻。

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測(cè)量測(cè)試介紹

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