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功率器件熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)（四）——功率半導(dǎo)體芯片溫度和測試方法

/ 前言 /功率半導(dǎo)體熱設(shè)計(jì)是實(shí)現(xiàn)IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎(chǔ)，只有掌握功率半導(dǎo)體的熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識(shí)，才能完成精確熱設(shè)計(jì)，提高功率器件的利用率，降低系統(tǒng)成本，并保證系統(tǒng)的可靠性。功率器件熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)系列文章會(huì)比較系統(tǒng)地講解熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識(shí)，相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和工程測量方法。芯片表面溫度芯片溫度是一個(gè)很復(fù)雜的問題，從芯片表面測量溫度，可以發(fā)現(xiàn)單個(gè)芯片溫度也是不均勻的。所以工程上設(shè)計(jì)一般可以取加權(quán)平均值或給出設(shè)計(jì)余量。這是一個(gè)MOSFET單管中的芯片，直觀可以看出芯片表面溫度是不一致的，光標(biāo)1的位置與光標(biāo)2位置溫度
關(guān)鍵字：英飛凌功率器件熱設(shè)計(jì) 溫度測試

為了測量爆炸場等惡劣環(huán)境下溫度的動(dòng)態(tài)變化,分析炸藥或相關(guān)彈藥的爆炸參數(shù),設(shè)計(jì)了基于CPLD的低功耗溫度存儲(chǔ)式測試系統(tǒng);運(yùn)用鎢錸熱電偶溫度傳感器匹配先進(jìn)的電源管理模塊,并結(jié)合動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)測試技術(shù),能夠應(yīng)用于環(huán)境條件比較差的惡劣環(huán)境中,在可靠可信、微功耗的基礎(chǔ)上能得到較好的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
關(guān)鍵字：時(shí)序仿真溫度測試 CPLD

摘要：在激光系統(tǒng)中，光學(xué)薄膜的抗激光強(qiáng)度較低，這是光學(xué)薄膜研究中最重要的問題之一。測量光學(xué)薄膜對強(qiáng)激光的熱吸收情況對于光學(xué)薄膜的性能研究具有重大意義，而TC-08是一款可靠靈活的溫度記錄儀。本文介紹了利用TC-08溫度記錄儀“接觸式”地測試光學(xué)薄膜激光量熱吸收的測試，大大地?cái)U(kuò)展了TC-08在光電行業(yè)的應(yīng)用。
關(guān)鍵字：廣州虹科光學(xué)薄膜熱吸收 TC-08溫度記錄儀溫度測試

不管是跨州運(yùn)送一整列散裝產(chǎn)品、通過長長的雙層集裝箱列車運(yùn)輸制成品，還是用鐵路罐車將有毒化學(xué)品運(yùn)送到工業(yè)...
關(guān)鍵字：溫度測試火車鐵軌紅外溫度計(jì)

不管是跨州運(yùn)送一整列散裝產(chǎn)品、通過長長的雙層集裝箱列車運(yùn)輸制成品，還是用鐵路罐車將有毒化學(xué)品運(yùn)送到工業(yè)園區(qū)，或通過繁忙進(jìn)出于都市的市郊列車來運(yùn)送旅客，都必須要保證火車按照時(shí)刻表在鐵軌上正常行駛。Fluke
關(guān)鍵字：火車保持溫度測試

運(yùn)用單片機(jī)和A/D等模塊，研制了一種便攜式溫濕度檢測儀。它可獨(dú)立作為一般的溫濕度測量儀表使用，也可單臺(tái)與除濕機(jī)、空調(diào)聯(lián)機(jī)使用，組成小的恒溫恒濕系統(tǒng)，或者多臺(tái)聯(lián)網(wǎng)，配合PC機(jī)作為一套集數(shù)據(jù)采集、控制和存儲(chǔ)為一體的高性能的便攜式溫濕度控制系統(tǒng)使用。
關(guān)鍵字：檢測儀傳感器溫度測試濕度測試 201003

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