靈敏測(cè)試 文章 進(jìn)入靈敏測(cè)試技術(shù)社區(qū)

【4200 SMU應(yīng)用文章】之實(shí)例篇：支持千倍以上負(fù)載電容的靈敏測(cè)試

• 使用長(zhǎng)電纜或電容夾頭的測(cè)試設(shè)置會(huì)增加測(cè)試儀器輸出的電容，導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確或不穩(wěn)定。當(dāng)輸出或掃描直流電壓并測(cè)量異常靈敏的低電流時(shí)，能觀察到這種效應(yīng)。為了應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)，泰克為吉時(shí)利4200A-SCS參數(shù)分析儀引入了兩個(gè)新的源測(cè)量單元（SMU）模塊，即使在測(cè)試連接電容較高的應(yīng)用中，該模塊也可以進(jìn)行穩(wěn)定的低電流測(cè)量。節(jié)能的要求越來(lái)越高，這就需要越來(lái)越低的電流，這是一個(gè)日益嚴(yán)峻的測(cè)量挑戰(zhàn)，如測(cè)試智能手機(jī)或平板電腦的大型LCD面板。高電容測(cè)試連接可能會(huì)出現(xiàn)問題的應(yīng)用，還包括：探卡上的納米FET I-V測(cè)量，使用長(zhǎng)電
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