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TC-08溫度記錄儀在光學(xué)薄膜激光量熱吸收測(cè)試的應(yīng)用

  • 摘要：在激光系統(tǒng)中，光學(xué)薄膜的抗激光強(qiáng)度較低，這是光學(xué)薄膜研究中最重要的問(wèn)題之一。測(cè)量光學(xué)薄膜對(duì)強(qiáng)激光的熱吸收情況對(duì)于光學(xué)薄膜的性能研究具有重大意義，而TC-08是一款可靠靈活的溫度記錄儀。本文介紹了利用TC-08溫度記錄儀“接觸式”地測(cè)試光學(xué)薄膜激光量熱吸收的測(cè)試，大大地?cái)U(kuò)展了TC-08在光電行業(yè)的應(yīng)用。
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熱吸收介紹

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