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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 物理層測試

PCIE 3.0的發(fā)射機物理層測試

  • 一、PCIE 3.0與 PCIE 2.0PCIE 3.0相對于它的前一代PCIE 2.0的最主要的一個區(qū)別是速率由5GT/s提升到了8GT/s。為了保證數(shù)據(jù)傳輸密度和直流平衡以及時鐘恢復(fù)，PCIE 2.0中使用了8B/10B編碼，即將每8位有效數(shù)據(jù)編碼為10位
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100 Gb/s通信系統(tǒng)物理層測試應(yīng)用指南

  • 1. 引言 在過去十年中，大量的帶寬密集型應(yīng)用迅猛增長。影視點播、IP語音、云計算和存儲技術(shù)對帶寬的胃口非常大，這些技術(shù)推動了100 Gb/s技術(shù)的部署。 高速串行(HSS)技術(shù)的強大動力、其抗噪聲差分信令及抗抖動嵌入式
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USB3.0的物理層測試簡介與難點分析

  • USB簡介USB(UniversalSerialBus)即通用串行總線，用于把鍵盤、鼠標(biāo)、打印機、掃描儀、數(shù)碼相機、MP3、U盤等...
  • 關(guān)鍵字： USB3.0  物理層測試  時鐘頻率  

USB3.0的物理層測試解決方案

  • USB簡介USB(UniversalSerialBus)即通用串行總線，用于把鍵盤、鼠標(biāo)、打印機、掃描儀、數(shù)碼...
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USB3.0的物理層發(fā)送端測試方案介紹

  • USB簡介USB(UniversalSerialBus)即通用串行總線，用于把鍵盤、鼠標(biāo)、打印機、掃描儀、數(shù)碼相機、M...
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