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超快速IV測試技術(shù)簡介-半導(dǎo)體器件特性測試的變革

  • 超快速IV測量技術(shù)是過去十年里吉時利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測試單元而著稱，吉時利的原測試單元在過去的三十年里一直被當(dāng)做直流伏安測試的標(biāo)準(zhǔn)，一些著名的產(chǎn)品例如236
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滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測試需求的JTAG技術(shù)

  • 引言：EEE 1149.1邊界掃描測試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復(fù)雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種
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WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃中關(guān)鍵特性測試

  • WLAN技術(shù)帶來了新挑戰(zhàn)，如何才能有效地消除干擾？WLAN基站和接入點功率管理的效率如何？這些問題必須通過綜合測試方案加以解決，本文專門論述了WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃中關(guān)鍵特性測試的意義和優(yōu)勢。WLAN技術(shù)為半導(dǎo)體
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中小功率光伏陣列I-V特性測試技術(shù)研究

  • 摘要：這里采用一種基于動態(tài)電容充電方法，結(jié)合高速A／D采樣和數(shù)據(jù)處理，實現(xiàn)對光伏陣列的現(xiàn)場I-V特性測試。該方法具有安全性高、體積小、成本低、精度高等特點，并可用于更大功率的光伏陣列現(xiàn)場測試。詳細介紹了系統(tǒng)
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超快速IV測試技術(shù)-半導(dǎo)體器件特性測試的變革

  • 超快速IV測量技術(shù)是過去十年里吉時利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測試單元而著稱，吉時利的原測試單元在過去的三十年里一直被當(dāng)做直流伏安測試的標(biāo)準(zhǔn)，一些著名的產(chǎn)品例如236
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特性測試介紹

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