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基于近似模型的電子封裝散熱結構優(yōu)化設計
- 0 引言 當前,電子設備的主要失效形式之一就是熱失效。據(jù)統(tǒng)計,電子設備的失效有55%是溫度超過規(guī)定值引起的,隨著溫度的增加,其失效率呈指數(shù)增長。對于很多電子設備,即使是溫度降低1℃,也將使設備的失效率降低一個可觀的量值。因此,電子設備的熱設計越來越受到重視,采用合理的熱設計,提高散熱系統(tǒng)的性能成為保證電子產品整體可靠性的關鍵技術之一。 針對封裝散熱結構優(yōu)化問題中存在的難點,本文提出了一種基于近似模型和隨機模擬的快速全局優(yōu)化方法。建立封裝散熱結構的高精度近似模型,能夠有效地控制優(yōu)化設計中仿真分析
- 關鍵字: 電子封裝
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