EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
電路故障
電路故障 文章 進(jìn)入電路故障技術(shù)社區(qū)
怎樣處理元器件引發(fā)電路故障?
- 01. 電容故障電容損壞引發(fā)的故障在電子設(shè)備中是最高的,其中尤其以電解電容的損壞最為常見(jiàn)。電容損壞表現(xiàn)為:容量變小、完全失去容量、漏電、短路。電容在電路中所起的作用不同,引起的故障也各有特點(diǎn):在工控電路板中,數(shù)字電路占絕大多數(shù),電容多用做電源濾波,用做信號(hào)耦合和振蕩電路的電容較少。用在開(kāi)關(guān)電源中的電解電容如果損壞,則開(kāi)關(guān)電源可能不起振,沒(méi)有電壓輸出;或者輸出電壓濾波不好,電路因電壓不穩(wěn)而發(fā)生邏輯混亂,表現(xiàn)為機(jī)器工作時(shí)好時(shí)壞或開(kāi)不了機(jī),如果電容并在數(shù)字電路的電源正負(fù)極之間,故障表現(xiàn)同上。這在電腦主板上表現(xiàn)尤
- 關(guān)鍵字: 元器件 電路故障
基于故障注入的基準(zhǔn)電路故障響應(yīng)分析
- 1 研究背景 隨著半導(dǎo)體器件的尺寸不斷縮小,集成電路(IC)設(shè)計(jì)的規(guī)模越來(lái)越大,芯片集成度越來(lái)越高,使得芯片測(cè)試越來(lái)越困難。為了提高集成電路的成品率,研究人員把更多的精力放在芯片的測(cè)試技術(shù)上,試圖采用更簡(jiǎn)便有效的方法測(cè)試芯片,并獲得滿足要求的故障覆蓋率。 電路故障覆蓋率的評(píng)測(cè)方法可以在芯片制造完成后,通過(guò)自動(dòng)測(cè)試儀(ATE)獲得芯片的故障覆蓋率。這種方法是一種事后的評(píng)估行為,他只能對(duì)成品芯片的優(yōu)劣做出估計(jì),不能對(duì)改進(jìn)芯片設(shè)計(jì)起到至關(guān)重要的作用。 另一種獲得故障覆蓋率的方法是,設(shè)計(jì)或測(cè)試人
- 關(guān)鍵字: 電路故障
共6條 1/1 1 |
電路故障介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條電路故障!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)電路故障的理解,并與今后在此搜索電路故障的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)電路故障的理解,并與今后在此搜索電路故障的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473