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基于FPGA的錯(cuò)誤檢測(cè)與糾正電路的方案設(shè)計(jì)
- 基于FPGA的錯(cuò)誤檢測(cè)與糾正電路的方案設(shè)計(jì),摘要:針對(duì)一些惡劣的電磁環(huán)境對(duì)隨機(jī)存儲(chǔ)器(RAM)電路誤碼影響的情況,根據(jù)糾錯(cuò)編碼的基本原理,提出簡(jiǎn)單實(shí)用的能檢查兩位錯(cuò)誤并自動(dòng)糾正一位錯(cuò)誤的EDAC算法;通過(guò)VHDL語(yǔ)言編程設(shè)計(jì),由FPGA器件來(lái)實(shí)現(xiàn),并給出仿真結(jié)果。
- 關(guān)鍵字: 電路 方案設(shè)計(jì) 糾正 檢測(cè) FPGA 錯(cuò)誤 基于
錯(cuò)誤檢測(cè)與糾正電路的設(shè)計(jì)方案
- 針對(duì)一些惡劣的電磁環(huán)境對(duì)隨機(jī)存儲(chǔ)器(RAM)電路誤碼影響的情況,根據(jù)糾錯(cuò)編碼的基本原理,提出簡(jiǎn)單實(shí)用的能檢查兩位錯(cuò)誤并自動(dòng)糾正一位錯(cuò)誤的EDAC算法;通過(guò)VHDL語(yǔ)言編程設(shè)計(jì),由FPGA器件來(lái)實(shí)現(xiàn),并給出仿真結(jié)果。
引 言
在一些電磁環(huán)境比較惡劣的情況下,一些大規(guī)模集成電路常常會(huì)受到干擾,導(dǎo)致不能正常工作。特別是像RAM這種利用雙穩(wěn)態(tài)進(jìn)行存儲(chǔ)的器件,往往會(huì)在強(qiáng)干擾下發(fā)生翻轉(zhuǎn),使原來(lái)存儲(chǔ)的0變?yōu)?,或者1變?yōu)?,造成的后果往往是
- 關(guān)鍵字: 設(shè)計(jì) 方案 電路 糾正 檢測(cè) 錯(cuò)誤
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