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咱的納米有幾 安(A)、伏(V)?(下)

  • 　　解決問題：脈沖I-V測試 ——納米測試小技巧 　　在對納米器件進(jìn)行電流-電壓(I-V)脈沖特征分析時(shí)通常需要測量非常小的電壓或電流，因?yàn)槠渲行枰謩e加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應(yīng)。這里，低電平測量技術(shù)不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電導(dǎo)率材料的電阻測量都非常重要。利于研究人員和電子行業(yè)測試工程師而言，這一功耗限制對當(dāng)前的器件與材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑戰(zhàn)。 　　與微米級元件與材料的I-V曲線生成不同的是，對納米材料與器件的測量需要特殊的
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脈沖I-V測試 ——納米測試小技巧（之二）

  • 在對納米器件進(jìn)行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時(shí)通常需要測量非常小的電壓或電流，因?yàn)槠渲行枰謩e加載很小的電...
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納米測試介紹

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