- 進行雙脈沖測試的主要目的是獲得功率半導體的開關特性，可以說它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應用的整個生命周期?；陔p脈沖測試獲得的器件開關波形可以做很多事情，包括：通過對開關過程的分析驗證器件設計方案并提出改進方向、提取開關特征參數制作器件規(guī)格書、計算開關損耗和反向恢復損耗為電源熱設計提供數據支撐、不同廠商器件開關特性的對比等。測量延時的影響被測信號在測量過程中會經歷兩次延時，不同信號所經歷延時的差別會對測量結果造成一定的影響。一次延時是示波器模擬前端的延時，索性示波器不同通道間延時差別在 ps 級別，對于
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Tektronix 延時校準 脈沖測試
- 隨著納米技術日新月異的發(fā)展，研究已深入到原子挨原子的分子級，構造具有全新特性的新結構。特別地，納米電子領域的發(fā)展十分迅速，其潛在影響涉及非常寬的行業(yè)領域。目前的納米電子研究的內容主要是如何開發(fā)利用碳納米管、半導體納米線、分子有機電子和單電子器件。
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吉時利 脈沖測試
- 美國俄亥俄州克利夫蘭市2007年4月10日訊——新興測量需求解決方案的領導者美國吉時利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布獲獎產品——4200-SCS半導體特征分析系統的最新硬件和軟件升級版本，本次升級引入4200-SCS新一代脈沖測試功能。實驗室系統的應用將集成直流和脈沖測量功能與完整的應用工具包結合，為用戶提供完整解決方案。功能增強的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導體技術生產和研究者們提供強大新功能。新升級版本不僅增強了吉時利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應
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測量 測試 吉時利 脈沖測試
- 針對不斷增長的測量需求提供解決方案的行業(yè)領袖吉時利 (Keithley) 儀器公司(NYSE:KEI)，日前發(fā)布6.1版交互式KTEI，暨功能強大的KTEI（吉時利交互式測試環(huán)境）測量軟件之最新版本，適用于4200-SCS半導體特性分析系統。新版KTEI 6.1軟件增強了吉時利4200-PIV的脈沖I-V能力并顯著改進脈沖和DC測量的相關性。 脈沖測試正成為日益重要的新特性分析技術。高速脈沖避免了自加熱效應可能造成的損壞并應用于新半導體材料和器件的特性分析，例如高k柵層疊特性
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測量 測試 吉時利 脈沖測試 新版測試軟件
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