自動(dòng)特征分析套件集成測(cè)試系統(tǒng) 文章 進(jìn)入自動(dòng)特征分析套件集成測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)社區(qū)

吉時(shí)利發(fā)布ACS自動(dòng)特征分析套件集成測(cè)試系統(tǒng)

• 　　美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布了ACS（Automated Characterization Suite）自動(dòng)特征分析套件集成測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)器件級(jí)、圓片級(jí)和黑盒級(jí)半導(dǎo)體特征分析工作。包括ACS集成測(cè)試系統(tǒng)在內(nèi)，吉時(shí)利已在半導(dǎo)體特征分析領(lǐng)域成功建立整套高度可配置的靈活測(cè)試系統(tǒng)，并通過功能強(qiáng)大的自動(dòng)化軟件為用戶提供無可比擬的測(cè)量性能。ACS測(cè)試系統(tǒng)通過統(tǒng)一軟件套件，提供更快測(cè)量速度和更大系統(tǒng)靈活性，以滿足用戶獨(dú)特的測(cè)試應(yīng)用需求。 　　在統(tǒng)一自動(dòng)特征分析套件中、吉時(shí)利ACS集成測(cè)
• 關(guān)鍵字： ACS  測(cè)量  測(cè)試  吉時(shí)利  自動(dòng)特征分析套件集成測(cè)試系統(tǒng)