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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 自校準(zhǔn)

精密ADC中的偏置和增益校準(zhǔn)功能:自校準(zhǔn)

  • 了解模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)中的自校準(zhǔn)或內(nèi)部校準(zhǔn)功能。在本系列之前,我們討論了兩點(diǎn)校準(zhǔn)可用于消除ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)的偏移和增益誤差。根據(jù)所使用的硬件,可以使用定點(diǎn)或浮點(diǎn)方法來實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)方程式。替代方法是使用包括集成校準(zhǔn)函數(shù)的ADC,因?yàn)樵诰_ADC中可能找到不同類型的校準(zhǔn)函數(shù),即:自我校準(zhǔn)系統(tǒng)校準(zhǔn)背景校準(zhǔn)在本文中,我們將探討自校準(zhǔn)功能。ADC校準(zhǔn)選項(xiàng)一些ADC支持校準(zhǔn)模式,這可以簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)并幫助我們從系統(tǒng)處理器中節(jié)約一些中央處理單元(CPU)周期。在這種情況下,您只需要調(diào)整ADC設(shè)置,發(fā)送適當(dāng)?shù)男?zhǔn)命令,然后等
  • 關(guān)鍵字: 精密ADC,偏置,增益校準(zhǔn)功能,自校準(zhǔn)  

一種16位高速數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

  • 基于Mixed-Signal CMOS工藝,本文設(shè)計(jì)了一種采用分段式電流舵結(jié)構(gòu)的高速高精度DAC。同時(shí)在該DAC的內(nèi)部電路中采用了一種新的電流校準(zhǔn)技術(shù),既保證了DAC電路的高精度,又減小了梯度誤差的影響。電路流片后的實(shí)際測(cè)試結(jié)果表明,該16位DAC在400MSPS轉(zhuǎn)換速率下仍具有良好的性能。
  • 關(guān)鍵字: DAC  CMOS  電流源  自校準(zhǔn)  SFDR  201401  

一種即時(shí)同步與時(shí)鐘自校準(zhǔn)結(jié)合的全網(wǎng)同步技術(shù)

  • 摘要:基于一種樹型網(wǎng)絡(luò)和星型網(wǎng)絡(luò)相結(jié)合的混合型網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),采用即時(shí)同步技術(shù)和時(shí)鐘自校準(zhǔn)技術(shù),以很低的同步代價(jià)...
  • 關(guān)鍵字: 自校準(zhǔn)  無線傳感器網(wǎng)絡(luò)  Si1000  

紅外線測(cè)溫儀自校準(zhǔn)誤差比對(duì)方法的研究

  • 摘要:紅外線測(cè)溫儀由于長(zhǎng)期用于生產(chǎn)一線進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,使用環(huán)境惡劣,以及日常維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng),可能導(dǎo)致檢定有效期內(nèi)的紅外線測(cè)溫儀不能準(zhǔn)確測(cè)量甚至設(shè)備故障,導(dǎo)致測(cè)量失準(zhǔn),影響電網(wǎng)安全穩(wěn)定運(yùn)行。根據(jù)紅外測(cè)溫原理
  • 關(guān)鍵字: 紅外線測(cè)溫儀  法的研究  自校準(zhǔn)  誤差    

鎖相環(huán)中YTO自校準(zhǔn)技術(shù)的應(yīng)用

  • 1 引言  鎖相環(huán)(PLL)是一個(gè)能夠跟蹤輸入信號(hào)相位的閉環(huán)自動(dòng)控制系統(tǒng),它由鑒相器(PD)、環(huán)路濾波器(LF)、壓 ...
  • 關(guān)鍵字: 鎖相環(huán)  YTO  自校準(zhǔn)  

ADSll10自校準(zhǔn)模數(shù)轉(zhuǎn)換器在稱重中的應(yīng)用

  • 引言
    ADSlllO是精密的連續(xù)自校準(zhǔn)A/D轉(zhuǎn)換器,帶有差分輸入和高達(dá)16位的分辨率。片內(nèi)可編程的增益放大器PGA提供高達(dá)8倍的增益,并且允許以高分辨率對(duì)較小的信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。1 ADSll10芯片結(jié)構(gòu)及工作原理
    1.1 ADS
  • 關(guān)鍵字: ADSll  10  自校準(zhǔn)  模數(shù)轉(zhuǎn)換器    

CMOS技術(shù)緩解了RF電路在SoC中的集成挑戰(zhàn)

共7條 1/1 1

自校準(zhǔn)介紹

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