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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 虛擬探測

利用新一代虛擬探測功能實現(xiàn)DDR等信號去嵌測試

  • 一、內(nèi)存測試中的難點內(nèi)存廣泛應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品中，內(nèi)存測試也是產(chǎn)品測試中的熱點和難點。內(nèi)存測試中最為關(guān)鍵的測試項目為DQ/DQS/CLK之間的時序關(guān)系。JEDEC規(guī)范規(guī)定測量這幾個信號之間的時序時測試點需要選擇在靠
  • 關(guān)鍵字： 虛擬探測  DDR  信號去嵌測試  

最新的高速信號虛擬探測和均衡技術(shù)

  • 【摘要】在高于2.5G比特率的串行數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)中，信號經(jīng)過PCB長距離傳輸線、連接器、過孔，到達接收芯片引腳的...
  • 關(guān)鍵字： 高速串行信  虛擬探測  均衡技術(shù)  
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虛擬探測介紹

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