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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 設(shè)計和測試

在射頻產(chǎn)品設(shè)計中將仿真與測量相結(jié)合

  • 縮短產(chǎn)品開發(fā)周期一直以來都是研發(fā)機(jī)構(gòu)的主要目標(biāo)。減少開發(fā)時間的方法之一是將設(shè)計和測試工作同步進(jìn)行——即通常遵循V型圖產(chǎn)品開發(fā)模式。這種方法已經(jīng)應(yīng)用于汽車業(yè)和航空業(yè)。
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設(shè)計和測試介紹

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