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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 誤碼測試儀

基于ADμC7020的高速誤碼測試儀

  • 針對國內外高速誤碼測試儀價格昂貴、系統(tǒng)復雜的現(xiàn)狀,采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和Silicon Laboratoties公司生產的XFP收發(fā)芯片Si5040,設計一種簡易、低成本的誤碼測試系統(tǒng)。系統(tǒng)由Si5040、ADμCT020和虛擬儀器Lab Windows/CVI組成。Si5040具有可編程的偽隨機碼比特流生成和比較功能,讀出誤碼值,通過ADμC7020計算得到誤碼率,并通過I2C接口與Lab Windows/CVI構成的上位機進行通信。
  • 關鍵字: C7020  誤碼測試儀    

高速突發(fā)模式誤碼測試儀的FPGA實現(xiàn)方案

  • 摘要:突發(fā)模式誤碼測試儀與一般連續(xù)誤碼測試儀不同,其接收端在誤碼比對前要實現(xiàn)在十幾位內,對具有相位跳變特點的信號進行時鐘提取和數據恢復,并且在誤碼比對時須濾除前導碼和定界符,僅對有效數據進行誤碼統(tǒng)計。
  • 關鍵字: FPGA  模式  誤碼測試儀  實現(xiàn)方案    

基于FPGA的RS485接口誤碼測試儀的設計

  • 摘要:介紹了一種基于FPGA的誤碼測試儀的設計原理、實現(xiàn)過程及調試經驗。該誤碼測試系統(tǒng)使用RS485接口...
  • 關鍵字: FPGA  RS485  誤碼測試儀  

FPGA配合預失真技術的解調誤碼測試儀

  • 1 引言
    工程實踐中,我們往往需要對所設計的硬件電路進行設計檢驗以保證其正常運作,從而才能進一步支持基于該硬件的復雜程序的正確調試。這樣,特定的相應測試系統(tǒng)設計就顯得尤為重要,不僅可以保證硬件的健康度,
  • 關鍵字: FPGA  預失真  解調  誤碼測試儀    
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誤碼測試儀介紹

  誤碼測試儀是評估信道性能的基本測量儀器。通過檢測數據傳輸系統(tǒng)的誤碼性能指標(包括誤碼率、誤碼間隔、無誤碼間隔等)對其系統(tǒng)傳輸質量進行評估。誤碼測試儀測量方法一經提出,就在測量領域中獲得了廣泛的關注,諸多優(yōu)點已得到了廣泛認可。  接口類型和速率齊全,功能完善,滿足多種數字信道測試要求;  體積小、攜帶方便,適合各種測試需求;  采用可充電鋰電池供電及低功耗設計,在鋰電池充足電的情況下能滿足4小時 [ 查看詳細 ]

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