負(fù)載效應(yīng) 文章 進(jìn)入負(fù)載效應(yīng)技術(shù)社區(qū)

輸入電容對(duì)于高頻測(cè)試的影響

• 　　為什么經(jīng)驗(yàn)老道的工程師都要在測(cè)試前調(diào)整一下探頭的檔位呢?不同檔位除了輸入阻抗、帶寬、上升時(shí)間等不同之外，還有個(gè)很重要的參數(shù)是輸入電容，它對(duì)于被測(cè)信號(hào)究竟有多大的影響?　　探頭的輸入電容對(duì)于高頻信號(hào)有很大的影響，信號(hào)頻率越高，影響也就越大，具體有何影響呢?　　一、探頭負(fù)載效應(yīng)　　簡(jiǎn)單來說，探頭的負(fù)載效應(yīng)就是在用探頭測(cè)電路中的其中兩點(diǎn)的波形時(shí)，在兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中接入了一個(gè)負(fù)載，而這個(gè)負(fù)載的大小，會(huì)直接影響電路的狀態(tài)，造成測(cè)量結(jié)果的不正確性?！　∶總€(gè)示波器探頭都有其輸入阻抗，這個(gè)阻抗是特性阻抗，不僅僅是電阻，還
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