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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 資源測試

一種用于FPGA互聯(lián)資源測試的新方法

  • 摘要：以基于靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)為例，在傳統(tǒng)的三次測試方法的基礎(chǔ)上提出了一種新穎的針對FPGA互聯(lián)資源的測試方法。該方法運用了層次化的思想，根據(jù)開關(guān)矩陣中可編程互聯(lián)點(PIP)兩端連線資
  • 關(guān)鍵字： FPGA  互聯(lián)  方法  資源測試    
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資源測試介紹

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