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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 軟誤差

淺析存儲器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問題

  • 軟誤差率(SER)問題是于上個世紀(jì)70年代后期作為一項存儲器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的，當(dāng)時DRAM開始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲單元中的電荷聚
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存儲器件軟誤差解決方案

  • 軟誤差是半導(dǎo)體器件中無法有意再生的“干擾”（即數(shù)據(jù)丟失）。它是由那些不受設(shè)計師控制的外部因素所引起的，包括alpha;粒子、宇宙射線和熱中子。許多系統(tǒng)能夠容忍一定程度的軟誤差。例如，如果為音頻、視
  • 關(guān)鍵字： 存儲  器件  方案  軟誤差    
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軟誤差介紹

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