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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 防掉電

基于FPGA的F-RAM防掉電設(shè)計(jì)

  • 摘要 在復(fù)雜實(shí)驗(yàn)條件下，需采用非易失性鐵電存儲(chǔ)器記錄重要數(shù)據(jù)。為防止二次上電時(shí)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)被覆蓋，需設(shè)計(jì)防掉電功能。文中介紹了一種F-RAM的防棹電設(shè)計(jì)思路，并基于現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列實(shí)現(xiàn)，板級(jí)驗(yàn)證工作正常，并已
  • 關(guān)鍵字： 非易失鐵電存儲(chǔ)器  防掉電  現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列  
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防掉電介紹

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